[发明专利]存储器系统及其操作方法有效
申请号: | 201911325421.0 | 申请日: | 2019-12-20 |
公开(公告)号: | CN111462801B | 公开(公告)日: | 2023-04-28 |
发明(设计)人: | 刘炳晟 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | G11C16/12 | 分类号: | G11C16/12;G11C5/14 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 刘久亮;黄纶伟 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储器 系统 及其 操作方法 | ||
1.一种存储器系统,该存储器系统包括:
状态信息寄存器,所述状态信息寄存器被配置为检查存储块中所包括的选择晶体管的阈值电压、存储关于检查结果的状态信息、并且基于所述状态信息输出代码;
状态监控器,所述状态监控器被配置为从所述状态信息寄存器接收所述代码、根据所述代码确定已经发生偏移的选择晶体管的数量、并且基于所述已经发生偏移的选择晶体管的数量而输出状态信号;以及
中央处理单元,所述中央处理单元被配置为响应于所述状态信号而输出用于设置所述存储块的参数的设置命令集、输出用于对所述选择晶体管进行重编程的重编程命令集、或者输出用于将所述存储块作为坏块处理的坏块地址。
2.根据权利要求1所述的存储器系统,其中,所述状态信息寄存器将关于所述选择晶体管的阈值电压的左偏移值的信息与关于所述阈值电压的右偏移值的信息分开,并且存储关于所述左偏移值和所述右偏移值的信息。
3.根据权利要求2所述的存储器系统,其中,所述状态信息寄存器将关于所述选择晶体管的阈值电压的所述左偏移值的信息存储到左偏移缓冲器中,并且将关于所述选择晶体管的阈值电压的所述右偏移值的信息存储到右偏移缓冲器中。
4.根据权利要求2所述的存储器系统,其中,所述状态信息寄存器将所述右偏移值当中的用于所选择的存储块的值作为代码输出,并且在用于所述右偏移值的代码完全输出之后,将所述左偏移值当中的用于所选择的存储块的值作为代码输出。
5.根据权利要求4所述的存储器系统,其中,当所述右偏移值的数量大于预定数量时,无论所述左偏移值如何,所述状态监控器向所述中央处理单元输出所述状态信号以输出用于将所述存储块作为坏块处理的所述坏块地址。
6.根据权利要求1所述的存储器系统,其中,所述状态监控器通过根据所述代码确定所述选择晶体管的阈值电压是下降、上升还是保持来输出所述状态信号。
7.根据权利要求6所述的存储器系统,其中,所述状态监控器在阈值电压下降的选择晶体管的数量小于预定数量时输出用于重置存储块的参数的信号作为所述状态信号,并且在阈值电压下降的选择晶体管的数量大于或等于所述预定数量时输出用于对选择晶体管进行重编程的信号作为所述状态信号。
8.根据权利要求7所述的存储器系统,其中,所述中央处理单元在接收到用于重置所述存储块的参数的状态信号时输出所述设置命令集,并且在接收到用于对选择晶体管进行重编程的状态信号时输出所述重编程命令集。
9.根据权利要求7所述的存储器系统,其中,当阈值电压上升的选择晶体管的数量小于预定数量时,所述状态监控器输出用于重置所述存储块的参数的信号作为所述状态信号。
10.根据权利要求7所述的存储器系统,其中,当阈值电压上升的选择晶体管的数量小于预定数量时,所述状态监控器输出用于对选择晶体管进行重编程的信号作为所述状态信号。
11.根据权利要求6所述的存储器系统,其中,当确定出所述选择晶体管的阈值电压上升时,所述状态监控器输出用于将所述存储块作为坏块处理的信号。
12.根据权利要求1所述的存储器系统,该存储器系统还包括:
循环次数寄存器,所述循环次数寄存器存储所述存储块的循环次数;以及
计数器,所述计数器检测被存储在所述循环次数寄存器中的循环次数等于基准计数值的存储块,并且当所存储的循环次数等于所述基准计数值时,所述计数器输出用于对所检测的存储块中所包括的选择晶体管的阈值电压进行检查的触发信号。
13.根据权利要求12所述的存储器系统,其中,所述中央处理单元在接收到所述触发信号时输出用于对所检测的存储块中所包括的选择晶体管的阈值电压进行检查的检查命令集。
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