[发明专利]一种岩石光谱二向性测量装置及其测量方法在审
申请号: | 201911326850.X | 申请日: | 2019-12-20 |
公开(公告)号: | CN111024625A | 公开(公告)日: | 2020-04-17 |
发明(设计)人: | 陈雪娇;潘蔚;田青林;余长发;唐义 | 申请(专利权)人: | 核工业北京地质研究院 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 王婷 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 岩石 光谱 向性 测量 装置 及其 测量方法 | ||
本发明属于遥感技术领域,具体涉及一种岩石光谱二向性测量装置及其测量方法,包括光源、固定平台、半圆龙骨A、旋转平台、半圆龙骨B、标尺A、标尺B、探头和岩石放置框;所述半圆龙骨A的两端垂直固定在固定平台的上表面,所述半圆龙骨B的两端垂直固定在旋转平台的上表面上,岩石放置框固定在旋转平台的圆心处,所述半圆龙骨B上设置有标尺A,标尺A上安装有光源;所述半圆龙骨A上设置有标尺B,标尺B上安装有探头;所述旋转平台同心内套在固定平台内。
技术领域
本发明属于遥感技术领域,具体涉及一种岩石光谱二向性测量装置及其测量方法。
背景技术
目前,遥感技术领域对于岩石的光谱测量主要是利用光谱仪在自然光或者人工散射光源条件下进行,无法有效控制入射光源照射的角度,也难以对光源的入射角度进行准确测量。与此同时,物体反射光谱的测量也多是在垂直于物体表面的角度,缺少对于物体不同角度反射光谱的精细化定量测量。因而,影响对于物体在不同角度入射光照射下各个方向的反射特性的研究。
因此需要设计一种可对物体不同角度反射光谱的精细化定量测量装置,以满足物体在不同角度入射光照射下各个方向的反射特性研究。
发明内容
为了解决现有技术中难以对物体在不同角度入射光照射下各个方向的反射特性的精细化定量测量这一问题,本发明提供了一种岩石光谱二向性测量装置及其测量方法,能够用于获取岩石在不同角度入射光照下各个角度的反射光谱。
本发明所采用的技术方案是:
一种岩石光谱二向性测量装置,包括光源1、固定平台8、半圆龙骨A2、旋转平台9、半圆龙骨B3、标尺A4、标尺B7、探头5和岩石放置框6;所述半圆龙骨A2的两端垂直固定在固定平台8的上表面,所述半圆龙骨B3的两端垂直固定在旋转平台9的上表面上,岩石放置框6固定在旋转平台9的圆心处,所述半圆龙骨B3上设置有标尺A4,标尺A4上安装有光源1;所述半圆龙骨A2上设置有标尺B7,标尺B7上安装有探头5;所述旋转平台9同心内套在固定平台8内。
所述标尺4与半圆龙骨B3之间以及标尺B7与半圆龙骨A2之间均设置有连接件用于连接;所述标尺4和标尺B7均指向旋转平台9圆心处,通过连接件实现光源和探头相对于旋转平台9中心的小范围距离调整。
所述固定平台8整体均为圆环结构,固定平台8的上表面上表刻有0~360°刻度圆,0°和180°标刻位置分别对应半圆龙骨A2的两端与固定平台8上表面固定连接的位置;半圆龙骨A2和半圆龙骨B3上表面上标刻有角度刻度;半圆龙骨A2和半圆龙骨B3上的中点位置刻度均为0°,半圆龙骨A2和半圆龙骨B3的中点位置的两侧均标刻有0~90°,刻度精度为1°,估算精度为0.1°;所述半圆龙骨A2和和半圆龙骨B3的圆心和刻度圆圆心重合。
所述旋转平台9整体为圆盘结构,所述旋转平台9的外径与固定平台8的内径相匹配;且固定平台8和旋转平台9圆心同轴连接,所述旋转平台9在固定平台8内水平旋转;所述固定平台8上的刻度圆围绕旋转平台9标刻;所述旋转平台9上表面刻有指针,用于指示旋转平台9与半圆龙骨B3同固定平台8及半圆龙骨A2之间的刻度圆方位角。
所述连接件分别套装在半圆龙骨A2和半圆龙骨B3上,并可沿半圆龙骨A2和半圆龙骨B3的圆弧表面移动,所述连接件放置在其所在半圆龙骨上的圆弧角度刻度位置即表示其相对于旋转平台9圆心的方位角。
所述岩石放置框6还包括:俯仰旋转电机和夹持框,夹持框安装在俯仰旋转电机上,能够实现岩石的俯仰旋转。
所述光源1为平行光源。
如上所述岩石光谱二向性测量装置的测量方法,包括如下步骤:
步骤一:将光源1和探头2固定到对应的连接件及标尺上,将合适大小的岩石放在岩石放置框6上并夹紧;
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