[发明专利]检测治具组件及其使用方法

说明书

本申请提供了一种检测治具组件及其使用方法；该检测治具组件包括：第一检测治具和第二检测治具；所述第一检测治具包括第一检测部和第二检测部；第二检测部凸出设于所述第一检测部的一侧表面；第二检测部用于插入待检测装置的盲孔内并顶持盲孔的底部；第二检测治具用于插入所述第一检测部设置第二检测部的表面与待检测装置设置盲孔的表面之间的缝隙内，第一检测治具和所述第二检测治具配合检测待检测装置的盲孔深度。本申请实施例提供的检测治具组件及其使用方法，通过设计两个结构巧妙的检测治具结构，然后利用两个检测治具之间的配合，可以实现对电子设备中盲孔深度的测量；该检测治具组件具有结构简单，操作方便的特点。

技术领域

本发明涉及电子设备检测装置的技术领域，具体是涉及一种检测治具组件及其使用方法。

背景技术

手机等电子设备的新机型量产检测阶段，需要测量指纹模组与电池盖之间的段差以及SIM卡与中框之间的段差等位置，上述待测量的位置均是产品质量把关的重点监控项，以保证产品一致性的良率,进而保证良好的用户体验。以测量指纹与电池盖之间的段差为例，传统技术中的量测方式一般为使用高度规：当高度规的测头做上下移动时，小齿轮带动编码器旋转，可以使高度变化量以数字显示出来。通过把测头从电池盖表面和指纹表面间移动，得到两者间的高度变化量，即为指纹与电池盖之间的段差。

由于电子设备薄型化是一个重要的发展趋势，因此近些年开始生产的部分新机型设计的电池盖厚度也越来越薄，其强度自然较弱，此时如果还采用原来的高度规量测指纹和电池盖间的段差的方法，当高度规测头下压电池盖表面时电池盖会发生下陷变形，这样得到的段差值并不是手机正常形态下的真实段差值(比实际偏小且误差大，且此误差无法补偿)，因此新的产品中将无法使用高度规直接量测此段差。这就需要研发一种全新的检测装置以及检测方法。

发明内容

第一方面，本申请实施例提供了一种检测治具组件，所述检测治具组件包括：第一检测治具和第二检测治具；所述第一检测治具包括第一检测部和第二检测部；所述第二检测部凸出设于所述第一检测部的一侧表面；所述第二检测部用于插入待检测装置的盲孔内并顶持盲孔的底部；所述第二检测治具用于插入所述第一检测部设置所述第二检测部的表面与待检测装置设置盲孔的表面之间的缝隙内，所述第一检测治具和所述第二检测治具配合检测待检测装置的盲孔深度。

第二方面，本申请实施例提供一种基于上述实施例中所述的检测治具组件的使用方法，所述使用方法包括：

将第一检测治具的第二检测部插入待检测装置的盲孔内并顶持盲孔的底部；

将第二检测治具插入第一检测部设置第二检测部的表面与待检测装置设置盲孔的表面之间的缝隙内；

根据第二检测部的端面与第一检测部设置第二检测部的表面之间的距离值以及第二检测治具的厚度值计算获得待检测装置的盲孔深度。

本申请实施例提供的检测治具组件及其使用方法，通过设计两个结构巧妙的检测治具结构，然后利用两个检测治具之间的配合，可以实现对电子设备中盲孔深度的测量；该检测治具组件具有结构简单，操作方便的特点。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请检测治具组件一实施例的整体结构示意图；

图2是图1实施例中第一检测治具的结构侧视示意图；

图3是图1实施例中第一检测治具的结构俯视示意图；

图4是申请检测治具组件另一实施例的整体结构示意图；

图5是本申请实施例中检测治具组件使用状态的结构示意图；