[发明专利]用于样本分析仪的线圈部件及检测装置、样本分析仪

说明书

本发明公开了一种用于样本分析仪的线圈部件及检测装置、样本分析仪，所述线圈部件包括：同轴套设的发射线圈和接收线圈；所述发射线圈用于发射电磁信号；所述接收线圈用于接收电磁信号，并与所述发射线圈进行电磁耦合。所述检测装置包括：所述线圈部件；与所述发射线圈相连接的振荡配合电路；所述振荡配合电路与所述发射线圈共同构成振荡部；所述振荡部产生具有一定振荡频率的磁场并由所述发射线圈发射。本发明所述线圈部件占有空间小、检测灵敏度高、电磁辐射低。

技术领域

本发明涉及信号检测技术领域，具体涉及一种用于样本分析仪的线圈部件及检测装置、样本分析仪。

背景技术

在信号检测技术中会面临对待测物体产生的磁场信号或所处状态进行检测的应用场景。例如采用磁珠法对样本进行分析时，磁珠作为待测物体并置于样本容器中，驱动磁珠运动，磁珠的运动将使得检测部件相应检测到变化磁场。通过分析磁场变化数据，进而获知磁珠在待分析样本中的所处状态，比如运动状态、静止状态等，从而得出样本的凝固特性、粘度特性等分析参数。现有技术中往往利用线圈部件来实现对待测物体产生的磁场信号或所处状态的检测。

目前的线圈部件存在如下问题：1、需要两个分立的线圈进行信号收发，占用较大的安装空间，2、仅有小部分磁场被接收，检测灵敏度低，且未被接收的电磁信号辐射至外部空间，造成辐射干扰。

发明内容

本发明针对以上问题的提出，而研制一种占有空间小、检测灵敏度高、电磁辐射低的用于样本分析仪的线圈部件，同时还提供了包括该种线圈部件的检测装置，以及具有该种检测装置的样本分析仪。

本发明采用的一个技术手段是：提供一种用于样本分析仪的线圈部件，包括：同轴套设的发射线圈和接收线圈；

所述发射线圈用于向所述接收线圈和置于预分析样本中的待测物体施加磁场；所述待测物体在所述发射线圈发射的磁场作用下形成涡流；所述涡流能够产生反作用于所述发射线圈发射磁场的外部磁场，所述外部磁场使得所述发射线圈的电感量相应变化，所述发射线圈发射的磁场随之产生变化；

所述接收线圈与所述发射线圈进行电磁耦合，并用于检测在所述发射线圈中产生的磁场的变化。

本发明采用的另一个技术手段是：提供一种检测装置，包括：

上述的用于样本分析仪的线圈部件；

与所述发射线圈相连接的振荡配合电路；所述振荡配合电路与所述发射线圈共同构成振荡部；所述振荡部产生具有一定振荡频率的磁场并由所述发射线圈发射。

本发明采用的另一个技术手段是：提供一种样本分析仪，包括：

上述的检测装置；所述检测装置通过检测所述待测物体产生的能够作用于所述发射线圈的外部磁场的变化，来获知所述待测物体的所处状态；和

用于驱动所述待测物体在预分析样本中运动的驱动部。

由于采用了上述技术方案，本发明提供的用于样本分析仪的线圈部件及检测装置、样本分析仪，所述线圈部件包括同轴套设的发射线圈和接收线圈，不仅使得发射线圈和接收线圈彼此不分立，进而占据较小的空间，线圈部件明显小型化；同时，发射线圈和接收线圈彼此套设，能够保证发射线圈发射的磁场信号绝大部分作用在接收线圈上，有利于有效提升线圈部件的检测灵敏度，辐射到空间中的电磁辐射较小。所述发射线圈发射的磁场不仅能够作用于所述接收线圈，同时还可以作用于待测物体，并在所述待测物体中形成涡流。该涡流所产生的反作用于所述发射线圈的外部磁场，能够使得所述发射线圈的电感量相应变化，进而所述发射线圈发射的磁场随之产生变化并被所述接收线圈检测。所述线圈部件可以应用于在预分析样本中的待测物体的检测，便于检测精度的提高。

附图说明