[发明专利]一种束流偏移量确定方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种束流偏移量确定方法，其特征在于，包括：

获取非均整模式下进行扫描时的扫描射野对应的第一射野中心；

根据扫描时的扫描高度和所述第一射野中心在机架坐标系下的第一位置坐标，确定扫描所发射束流的角度偏移量，包括：根据平偏移量对第一射野中心在机架坐标系下的第一位置坐标进行校正，并根据校正后的第一位置坐标和所述扫描高度，确定扫描所发射束流的角度偏移量；

其中，在根据平偏移量对第一射野中心在机架坐标系下的第一位置坐标进行校正之前，所述方法还包括：在不同射野下，获取非均整模式下进行扫描时的扫描射野对应的第二射野中心；根据所述第二射野中心在机架坐标系下的第二位置坐标，以及准直装置的安装位置，确定扫描所发射束流的平移偏移量；

通过下述公式计算确定扫描所发射束流的角度偏移量：

其中，ori表示机架坐标系下的inline方向或crossline方向，表示第一射野中心在机架坐标系下的第一位置坐标，S_ori表示平移偏移量，表示校正后的第一位置坐标，SDD₁表示扫描高度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述第二射野中心在机架坐标系下的第二位置坐标，以及准直装置的安装位置，确定扫描所发射束流的平移偏移量，包括：

根据某一治疗头角度下的第二射野中心在机架坐标系下的第二位置坐标和准直装置的安装位置，确定扫描所发射束流的平移偏移量；

通过下述公式计算确定扫描所发射束流的平移偏移量：

其中，ori表示inline方向或crossline方向，S_ori表示inline方向或crossline方向上的平偏移量，C_ori表示机架坐标系下第二射野中心在inline方向或crossline方向上的第二位置坐标，SDD为射线源到移动探测器的距离，H为射线源到限束系统的准直装置的中心的距离。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据不同治疗头角度下的第二射野中心在机架坐标系下的各第二位置坐标和至少两个准直装置的安装位置，确定扫描所发射束流的平移偏移量，包括：

根据参考治疗头角度下的第二射野中心在机架坐标系下的第二参考位置坐标对当前治疗头角度下的第二射野中心在机架坐标系下的第二位置坐标进行校正；

根据校正后的第二位置坐标和至少两个准直装置的安装位置，确定扫描所发射束流的平移偏移量；

其中，通过下述公式计算确定扫描所发射束流的平移偏移量：

其中，表示当前治疗头角度下的第二射野中心在机架坐标系下的第二位置坐标，表示参考治疗头角度下的第二射野中心在机架坐标系下的第二参考位置坐标，表示第二参考位置坐标对第二位置坐标进行校正，SDD为射线源到移动探测器的距离，H_Y为当前治疗头角度下射线源到限束系统的准直装置的中心的距离，H_X为参考治疗头角度下射线源到限束系统的准直装置的中心的距离。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在根据所述第二射野中心在机架坐标系下的第二位置坐标，以及准直装置的安装位置，确定扫描所发射束流的平移偏移量之前，所述方法还包括：

分别获取均整模式下进行扫描时，不同治疗头角度下各准直装置的位置坐标；其中，治疗头角度的相位差为180度；

针对每个准直装置，将所述准直装置的位置坐标从测量坐标系转换至机架坐标系；

根据机架坐标系下各准直装置的位置坐标，对所述第二射野中心在机架坐标系下的第二位置坐标进行校正；

相应的，根据所述第二射野中心在机架坐标系下的第二位置坐标，以及准直装置的安装位置，确定扫描所发射束流的平移偏移量，包括：

根据校正后的所述第二位置坐标，以及准直装置的安装位置，确定扫描所发射束流的平移偏移量；

通过下述方式计算确定扫描所发射束流的平移偏移量：

其中，ΔX表示第一准直装置对应的数据偏移量，表示校正后的第二位置坐标，ΔY表示第二准直装置对应的数据偏移量，表示校正后的第二位置坐标。