[发明专利]产生符合IEC61000-4-2标准双峰波形的电路

说明书

本发明实施例提供一种产生符合IEC61000‑4‑2标准双峰波形的电路和方法，该电路包括：TLP发生器电路和TLP外接电路，其中，所述TLP发生器电路用于产生TLP激励；所述TLP外接电路用于存储所述TLP激励产生的能量，并释放双峰波形形态的静电激励。本发明实施例提供的电路和方法，避免了对TLP静电发生器的内部电路结构进行改装带来的损坏TLP机台的风险，同时，相对于TLP静电发生器的内部改装，外部添加电路结构的方式更为简单。

技术领域

本发明涉及部件级电子器件检测技术领域，尤其涉及一种产生符合IEC61000-4-2标准双峰波形的电路和方法。

背景技术

在IC(integrated circuit，集成电路)芯片的封装、测试、运输、制造等过程中，都会出现不同程度的ESD(Electronic Static Discharge，静电放电)事件，而静电放电带来的芯片失效问题是集成电路产业不容忽视的问题。静电放电的测试模型分为部件级和系统级。对于部件级来说，常用的静电模型为人体模型(Human Body Model，缩写HBM),充电器件模型(Charge Device Model，简称CDM)和机械模型(Machine Model，缩写MM)，这些模型广泛用于检测部件级电子器件的鲁棒性。对于系统级来说，常用的检测方法为产生双峰波形的系统级ESD应力，用来检测电子产品的鲁棒性，优选的双峰波形为符合IEC 61000-4-2标准波形。图1为现有技术提供的IEC 61000-4-2标准波形的示意图，如图1所示，横轴是Time(时间)，单位为ns，纵轴是Current(电流)，单位是A，产生的波形即符合IEC 61000-4-2标准波形是双波峰波形。以一个预充电电压为8kV的产生符合IEC 61000-4-2标准的ESD枪发生器为例，最常见的需要满足的参数主要体现在四个方面：第一个波峰的峰值为30A±10％；第一个波峰的峰值的上升时间为0.8ns±25％；30ns时，波形的幅值16A±30％；60ns时，波形的幅值8A±30％。

对于能产生符合IEC61000-4-2标准双峰波形的静电机台来说，最常用的为ESD枪，但ESD枪通常是手持造成，精准性和稳定性有待提高。一种目前已有的更好的一种方式为，基于TLP(Transmission Line Pulse，传输线脉冲)静电发生器的内部电路结构的改装来实现，但这种内部改装的方式会有损坏TLP机台的风险，此外改装过程也是十分麻烦的。

因此，如何避免基于TLP静电发生器的内部电路结构的改装来产生符合IEC61000-4-2标准双峰波形带来的损坏TLP机台的风险，简化改装过程，仍然是本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

本发明实施例提供一种产生符合IEC61000-4-2标准双峰波形的电路，用以解决现有的基于TLP静电发生器的内部电路结构的改装来产生符合IEC61000-4-2标准双峰波形存在损坏TLP机台的风险，改装过程复杂的问题。

第一方面，本发明实施例提供一种产生符合IEC61000-4-2标准双峰波形的电路，包括：包括TLP发生器电路和TLP外接电路，其中，

所述TLP发生器电路用于产生TLP激励；

所述TLP外接电路用于存储所述TLP激励产生的能量，并释放双峰波形形态的静电激励。

优选地，该电路中，所述TLP外接电路，包括第一电阻、第一电感、第一电容、第二电感、第二电容、第二电阻、第一压控开关、第三电容和第三电阻，其中，

所述第一电阻、所述第一电感和所述第一电容串联形成所述TLP外接电路的第一支路；

所述第二电容形成所述TLP外接电路的第二支路；

所述第三电阻和所述第三电容并联后再与所述第二电感、第二电阻和第一压控开关串联形成所述TLP外接电路的第三支路；