[发明专利]一种检测夹具及检测系统

说明书

本发明涉及材料组织性能检测技术领域，公开了一种检测夹具及检测系统。检测夹具包括：夹持座，其包括导轨和至少两块间隔设置的固定座，所述固定座可沿导轨滑动，且所述固定座与导轨绝缘，每块固定座上均设置有与受测件绝缘的测件容纳部以及用于安装测温装置的固定槽；接线柱，至少四个接线柱分别排列在所述固定座上，一侧的两个所述接线柱可沿所述导轨的长度方向相对于另外一侧的两个接线柱移动，所述接线柱一端穿设于所述固定座并能够抵接于所述受测件，另一端从所述固定座上方伸出。将夹持受测件的检测夹具置于非常温保温或温度急剧变化环境中，检测系统输出不同时间的温度、电阻率或电导率信息及相关曲线，进而分析受测件的组织性能变化。

技术领域

本发明涉及材料组织变化及性能检测技术领域，尤其涉及一种检测夹具及检测系统。

背景技术

现有导体材料的电阻率或电导率(电阻率的倒数)检测一般在常温(通常约定为20℃)下进行，非常温的其他温度下的电阻率或电导率则采用公式ρ(T)＝ρ(T₀)[1+α(T-T₀)]计算得出，其中ρ(T₀)为常温T₀对应的电阻率，α是表征温度对电阻率影响的系数，理想金属的电阻率与温度呈线性关系，即α为常数。但是，电阻率或电导率受金属内部晶体结构的影响，所有破坏晶格场周期性的因素都会导致载流电子的平均自由程缩短，α并非常数，因此，根据上述公式计算出来的非常温的电阻率或电导率并不是真实值。

电阻率是组织结构敏感参数，根据电阻率的变化可以确定材料的晶体结构及组织的变化，进而可以确定材料的性能，但是这对检测夹具及检测系统的要求极高，特别是在温度大范围交替变化、温度急速升降等复杂环境使用的夹具，容易变形和破坏，进而影响检测精度。针对现有技术存在的问题，开发能适用于非常温及较大温度变化范围的夹具和检测系统，对于精准检测温度变化过程中的组织性能变化具有重要意义。

发明内容

本发明的目的在于提出一种检测夹具及检测系统，解决现有技术无法在非常温及大范围温度变化环境中对材料的动态电阻率或动态电导率进行检测的问题。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

本发明提供一种检测夹具，包括：

夹持座，其包括导轨和至少两块间隔设置的固定座，所述固定座可沿导轨滑动，且所述固定座与导轨绝缘，每块固定座上均设置有与受测件绝缘的测件容纳部以及用于安装测温装置的固定槽；

接线柱，至少四个接线柱分别排列在所述固定座上，一侧的两个所述接线柱可沿所述导轨的长度方向相对于另外一侧的两个接线柱移动，所述接线柱一端穿设于所述固定座并能够抵接于所述受测件，另一端从所述固定座上方伸出。

作为上述检测夹具的一种优选方案，所述固定座设置四块，每块所述固定座上均设置一个接线柱，所述固定座沿所述导轨滑动并带动所述接线柱移动。

作为上述检测夹具的一种优选方案，所述固定座上设置用于安装所述测件容纳部的安装槽，所述安装槽设置于所述固定槽上方，且所述固定槽与所述安装槽相通。

作为上述检测夹具的一种优选方案，所述安装槽沿所述导轨的长度方向设置，所述测件容纳部能够沿所述安装槽的长度方向滑入或滑出。

作为上述检测夹具的一种优选方案，所述接线柱与所述受测件点接触。

作为上述检测夹具的一种优选方案，还包括绝缘部，所述绝缘部设置有固定孔，所述固定座设置有与所述固定孔对应的穿设孔，所述接线柱穿设于所述穿设孔及所述固定孔与受测件抵接，所述绝缘部设置于所述固定座中。

作为上述检测夹具的一种优选方案，所述导轨由绝缘材料制成。

本发明还提供一种检测系统，包括上述的检测夹具。

作为上述检测系统的一种优选方案，包括：