[发明专利]电子元件性能自动检测机在审

专利信息
申请号: 201911343600.7 申请日: 2019-12-24
公开(公告)号: CN110921278A 公开(公告)日: 2020-03-27
发明(设计)人: 任书策;皮志红 申请(专利权)人: 昆山华誉自动化科技有限公司
主分类号: B65G47/80 分类号: B65G47/80;B65G47/91
代理公司: 苏州通途佳捷专利代理事务所(普通合伙) 32367 代理人: 翁德亿
地址: 215000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 电子元件 性能 自动检测
【权利要求书】:

1.电子元件性能自动检测机,其特征在于:包括机架(1),所述机架(1)上设置有设置有转盘(3)和驱动转盘(3)做旋转运动的转盘驱动机构(31),所述转盘(3)上周向设置有多个载具(4),所述转盘(3)外部周向依次设置有载具校正机构(2)、NFC测试机构(6)、WPC测试机构(61)、THM测试机构(62)、MST测试机构(63),所述转盘(3)一侧还设置有用于放置检测后物料的物料装载机构(8),还包括将物料搬运至物料装载机构(8)内的搬运机构(7)。

2.如权利要求1所述的电子元件性能自动检测机,其特征在于:所述载具(4)包括载具本体(41),所述载具本体(41)内设置有与产品对应的仿形空腔,仿形空腔内位于产品测试点下方设置有优力胶垫板(42)。

3.如权利要求1所述的电子元件性能自动检测机,其特征在于:所述载具校正机构(2)包括第一安装架,所述第一安装架上设置有校正板(21),所述校正板(21)位于转盘(3)上方,所述校正板(21)生设置有与载具(4)对应的第一校正孔和第二校正孔,所述第一校正孔内设置有第一校正杆(22),所述第二校正孔内设置有第二校正杆(23)。

4.如权利要求1所述的电子元件性能自动检测机,其特征在于:所述NFC测试机构(6)、WPC测试机构(61)、THM测试机构(62)、MST测试机构(63)均包括第二安装架(64),所述第二安装架(64)上设置有测试板和驱动测试板做升降运动的第一升降机构,所述测试板上设置有多个与产品测试点接触的测试PIN针,还包括与测试PIN针连接的测试仪器。

5.如权利要求1所述的电子元件性能自动检测机,其特征在于:所述物料装载机构(8)包括物料装载板(81),所述物料装载板(81)上设置有多个存放物料的良品料盒(82)和不良品料盒(83)(82),所述物料装载板(81)底部设置有用于驱动物料装载板(81)沿Y轴方向运动的第一水平驱动机构(84)。

6.如权利要求1所述的电子元件性能自动检测机,其特征在于:所述搬运机构(7)包括沿X轴方向设置的搬运架(71),所述搬运架(71)上设置有导轨,所述导轨上安装有滑块,还包括驱动滑块沿导轨运动的第二水平驱动机构(72),所述滑块上设置有第二升降机构(73),所述第二升降机构(73)的驱动轴上安装有产品吸盘(74)。

7.如权利要求1所述的电子元件性能自动检测机,其特征在于:所述机架(1)上还设置有对射光栅(5)。

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