[发明专利]可控源电磁法测量中静态位移校正方法、装置及智能终端有效

专利信息
申请号: 201911344374.4 申请日: 2019-12-25
公开(公告)号: CN110989006B 公开(公告)日: 2022-07-22
发明(设计)人: 李建华;林品荣;郑采君;李勇;丁卫忠;孙夫文;刘昕卓;齐方帅 申请(专利权)人: 中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所
主分类号: G01V3/08 分类号: G01V3/08;G01V3/38
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 田云
地址: 300000 天津市东丽区东丽湖*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 可控 电磁 测量 静态 位移 校正 方法 装置 智能 终端
【权利要求书】:

1.一种可控源电磁法测量中静态位移校正方法,其特征在于,所述方法包括:

在电性源的激发场源对应的接收区测点获取测量磁场和测量电场;其中,所述测量磁场和所述测量电场通过可控源电磁法采集得到;

确定所述电性源与所述接收区测点的位置关系;

基于所述测量磁场、所述位置关系、供电电流、磁导率和角频率计算校正视电阻率

其中,测量磁场为r为电性源AB的中点位置与测点的距离,为测点相对于电性源AB的偏移角,所述位置关系由r和确定;为波数,I1、I0和K1、K0分别是第一和第二类以ikr/2为宗量的虚宗量贝塞尔函数,0和1表示阶数,I为供电电流;μ是磁导率,ω为角频率;

根据所述校正视电阻率得到校正电场,并基于所述校正电场对所述测量电场进行校正。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在电性源的激发场源对应的接收区测点获取测量磁场和测量电场的步骤,包括:

根据预设测量方式对所述激发场源进行测量,得到测量磁场和测量电场;所述预设测量方式包括一磁一电方式或一磁两电方式。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述电性源与所述接收区测点的位置关系的步骤,包括:

确定所述电性源的距离为第一距离,所述电性源的指定位置与所述接收区测点的距离为第二距离;

根据所述第一距离和所述第二距离确定电性源的指定位置与所述接收区测点的位置偏移;

根据所述第一距离、所述第二距离和所述位置偏移确定所述电性源与所述接收区测点的位置关系。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述测量磁场计算校正视电阻率的步骤,还包括:

基于所述测量磁场和所述位置关系计算指定频率的所述校正视电阻率的值;所述指定频率包括单一频率或指定频率范围。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述校正视电阻率得到校正电场,并基于所述校正电场对所述测量电场进行校正的步骤,包括:

基于所述校正视电阻率确定目标视电阻率;

基于所述目标视电阻率和所述位置关系计算所述指定频率的所述校正电场的值;

基于所述校正电场的值对整个频段上的所述测量电场进行校正。

6.一种可控源电磁法测量中静态位移校正装置,其特征在于,包括:

获取模块,用于在电性源的激发场源对应的接收区测点获取测量磁场和测量电场;其中,所述测量磁场和所述测量电场通过可控源电磁法采集得到;

确定位置模块,用于确定所述电性源与所述接收区测点的位置关系;

计算模块,用于基于所述测量磁场和所述位置关系计算校正视电阻率

其中,测量磁场为r为电性源AB的中点位置与测点的距离,为测点相对于电性源AB的偏移角,所述位置关系由r和确定;为波数,I1、I0和K1、K0分别是第一和第二类以ikr/2为宗量的虚宗量贝塞尔函数,0和1表示阶数,I为供电电流;μ是磁导率,ω为角频率;

电场校正模块,用于根据所述校正视电阻率得到校正电场,并基于所述校正电场对所述测量电场进行校正。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述获取模块用于:

根据预设测量方式对所述激发场源进行测量,得到测量磁场和测量电场;所述预设测量方式包括一磁一电方式或一磁两电方式。

8.一种智能终端,其特征在于,包括处理器和存储器;

所述存储器上存储有计算机程序,所述计算机程序在被所述处理器运行时执行如权利要求1至5任一项所述的方法。

9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,用于储存为权利要求1至5任一项所述方法所用的计算机程序。

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