[发明专利]一种基于石墨烯/二硒化钨/二硒化锡叠层结构的光电器件及其制备方法有效
申请号: | 201911345170.2 | 申请日: | 2019-12-24 |
公开(公告)号: | CN111129169B | 公开(公告)日: | 2021-06-15 |
发明(设计)人: | 周建新;徐廉鹏;何哲 | 申请(专利权)人: | 南京航空航天大学 |
主分类号: | H01L31/0216 | 分类号: | H01L31/0216;H01L31/0264;H01L31/028;H01L31/032;H01L31/101;H01L31/18 |
代理公司: | 江苏圣典律师事务所 32237 | 代理人: | 贺翔;杨文晰 |
地址: | 210016 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 石墨 二硒化钨 二硒化锡叠层 结构 光电 器件 及其 制备 方法 | ||
1.一种基于石墨烯/二硒化钨/二硒化锡叠层结构的光电器件,其特征在于,所述光电器件从下到上依次为:衬底(1),绝缘层(2),二硒化锡层(3),二硒化钨层(4)和石墨烯层(5);
所述衬底(1)与绝缘层(2)上表面积相同,所述二硒化锡层(3)上表面积小于绝缘层(2);所述二硒化钨层(4)覆盖于二硒化锡层(3)上表面且二硒化钨层(4)的一侧延伸至绝缘层(2)上表面;所述石墨烯层(5)覆盖于二硒化钨层(4)上表面且石墨烯层(5)的一侧延伸至绝缘层(2)上表面;
第一金属电极(6)和第二金属电极(7)分别位于叠层结构两侧,其中,所述第一金属电极(6)位于绝缘层(2)一侧的上表面且与二硒化锡层(3)接触;所述第二金属电极(7)位于绝缘层(2)另一侧的上表面且与石墨烯层(5)延伸至绝缘层(2)的区域接触。
2.根据权利要求1所述基于石墨烯/二硒化钨/二硒化锡叠层结构的光电器件,其特征在于,所述的衬底(1)包括绝缘衬底和非绝缘衬底;当所述衬底(1)为绝缘衬底时,衬底(1)与绝缘层(2)材质相同且二者固为一体。
3.根据权利要求2所述基于石墨烯/二硒化钨/二硒化锡叠层结构的光电器件,其特征在于,所述绝缘层衬底的材质包括氧化铝、普通玻璃、石英玻璃、云母、聚对苯二甲酸乙二醇酯、聚二甲基硅氧烷中的至少一种;衬底(1)与绝缘层(2)的总厚度为0.1-5毫米。
4.根据权利要求2所述基于石墨烯/二硒化钨/二硒化锡叠层结构的光电器件,其特征在于,所述非绝缘衬底的材质包括硅、锗、金箔、铜箔、镍箔中的至少一种;所述绝缘层(2)的材质为二氧化硅、云母、六方氮化硼、氧化铝或氧化铪中的一种;衬底(1)的厚度为0.1-5毫米,绝缘层(2)的厚度为10-300纳米。
5.根据权利要求2所述基于石墨烯/二硒化钨/二硒化锡叠层结构的光电器件,其特征在于,所述二硒化锡层(3)、二硒化钨层(4)、石墨烯层(5)的厚度依次分别为4-50纳米、15-55纳米和0.7-6纳米。
6.根据权利要求1所述基于石墨烯/二硒化钨/二硒化锡叠层结构的光电器件,其特征在于,所述的第一金属电极(6)和第二金属电极(7)的材质为铟镓合金,或添加铟镓合金的金属;所述金属包括铜、铝、金、铂、钯中的一种或多种;所述的第一金属电极(6)和第二金属电极(7)的厚度均为10-500纳米。
7.根据权利要求6所述基于石墨烯/二硒化钨/二硒化锡叠层结构的光电器件,其特征在于,所述添加铟镓合金的金属中,铟镓合金的含量为5-50%。
8.如权利要求1-7任一所述基于石墨烯/二硒化钨/二硒化锡叠层结构的光电器件的制备方法,其特征在于,具体步骤如下:
1)衬底清洗
将待洗的衬底依次放入丙酮溶液、异丙酮、无水乙醇浸泡5-7分钟后,分别依次以超声、去离子水冲洗,吹干后备用;
2)绝缘层的制备
当衬底为非绝缘衬底时,利用热氧化法、气相化学沉积法、原子层沉积法或机械转移法在衬底表面制备绝缘层;
3)层状材料的制备
用机械剥离法或化学气相沉积法分别制备二硒化锡、二硒化钨、石墨烯层状材料;
4)石墨烯/二硒化钨/二硒化锡叠层结构的制备
在二硒化锡层上旋涂PPC,加热使PPC与二硒化锡层结合,然后将PPC-二硒化锡转移到绝缘层上,然后加热,并以丙酮清洗去除PPC;
用同样的转移方法,将二硒化钨层堆叠到二硒化锡层上得到二硒化钨-二硒化锡叠层,再将石墨烯层堆叠到双层上得到石墨烯-二硒化钨-二硒化锡叠层;
5)电极的制备
分别在二硒化锡层和石墨烯层的端部刷涂液态铟镓合金,或蒸镀仪蒸镀铟镓-金属合金,或磁控溅射仪中溅射铟镓-金属合金,即获得所述基于石墨烯/二硒化钨/二硒化锡叠层结构的光电器件。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的