[发明专利]一种基于光热电效应的激光轨迹跟踪器件及跟踪测试方法在审

专利信息
申请号: 201911346122.5 申请日: 2019-12-24
公开(公告)号: CN111162159A 公开(公告)日: 2020-05-15
发明(设计)人: 朱宏伟;钟雨嘉 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: H01L35/00 分类号: H01L35/00;H01L35/02;G01B7/004
代理公司: 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 代理人: 邸更岩
地址: 100084 北京市海淀区北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 热电 效应 激光 轨迹 跟踪 器件 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种基于光热电效应的激光轨迹跟踪器件,其特征在于:该器件包括柔性衬底(1)、热电薄膜(2)和四个电极;所述热电薄膜设置在所述柔性衬底上面;所述四个电极包括测量x方向电压信号的正电极(3)、测量沿x方向电压信号的负电极(4)、测量y方向电压信号的正电极(5)和测量y方向电压信号的负电极(6);该四个电极分别设置在所述热电薄膜上面的四条边上,四个电极将热电薄膜围绕出一个方形区域,相邻两个电极之间互不连接。

2.根据权利要求1所述的一种基于光热电效应的激光轨迹跟踪器件,其特征在于:所述柔性衬底为云母或聚酰亚胺。

3.根据权利要求1所述的一种基于光热电效应的激光轨迹跟踪器件,其特征在于:所述的热电薄膜采用硒化锡薄膜、碲化铋薄膜或硅锗合金薄膜。

4.根据权利要求1-3任一权利要求所述的一种基于光热电效应的激光轨迹跟踪器件,其特征在于:所述电极通过涂覆导电银浆,或通过热蒸镀金、银、铜与热电薄膜连接。

5.一种采用如权利要求1所述器件的基于光热电效应的激光轨迹跟踪测试方法,其特征在于所述方法包括如下步骤:

1)位置标定:将跟踪器件放置在带有定位功能的激光器(7)下方,将激光聚焦在器件表面,以器件方形区域的中心为坐标原点,以沿x方向和沿y方向的两个轴构建平面坐标系,选取一系列坐标为(x,y)的节点位置,控制激光光斑照射在坐标为(x,y)的节点位置上,记录每个节点沿x方向的电压信号Vx和沿y方向的电压信号Vy,记录一系列节点位置(x,y)及其对应的电压信号(Vx,Vy);

以Vx为横坐标,以Vy为纵坐标,将x数值相同y数值由小到大对应的(Vx,Vy)点依次连接为由下至上的折线,将y数值相同x数值由小到大对应的(Vx,Vy)点依次连接为由左至右的折线;两个方向的折线在Vx和Vy为横纵坐标的图中形成网格,网格中的每条线纵向折线都对应于一个x数值,每条横向折线都对应于一个y数值,网格节点对应于一个位置坐标(x,y),完成位置标定图的绘制;

2)光斑定位:将激光照射在薄膜的某一位置,记录沿x方向的电压信号和沿y方向的电压信号,将两个方向的电压信号与位置标定图对照,电压信号在位置标定图中的哪个网格节点附近,则说明激光光斑的位置坐标为该节点对应的位置坐标,从而实现激光定位;

3)轨迹跟踪:激光在扫描过程中,将光斑在薄膜表面移动的轨迹看作一系列连续变化的位置点,记录一系列连续变化的沿x方向的电压信号和沿y方向的电压信号,与位置标定图对照,按照步骤2)的光斑定位方法,即复原出激光的扫描轨迹。

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