[发明专利]光扫描装置、物体检测装置、光扫描方法、物体检测方法及程序在审
申请号: | 201911347071.8 | 申请日: | 2019-12-24 |
公开(公告)号: | CN112213853A | 公开(公告)日: | 2021-01-12 |
发明(设计)人: | 段志辉 | 申请(专利权)人: | 度逢株式会社 |
主分类号: | G02B26/10 | 分类号: | G02B26/10;G02B26/12;G01S7/481 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 刘军 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 扫描 装置 物体 检测 方法 程序 | ||
1.一种光扫描装置,其特征在于,包括:
扫描部,通过光束形成相互在副扫描方向的不同位置的多条主扫描线;以及
调整部,通过使所述扫描部形成的所述多条主扫描线中的一部分主扫描线通过光学部件进行折射,来调整所述多条主扫描线的扫描范围,以使所述多条主扫描线中的所述一部分主扫描线与所述多条主扫描线中的剩余的主扫描线相比在主扫描方向上扫描更大的范围。
2.根据权利要求1所述的光扫描装置,其特征在于,
所述光学部件包括:
第一光学元件,使形成所述一部分主扫描线的光束中通过第一主扫描范围的光束越靠近主扫描方向的边缘侧越强地向所述边缘侧折射;以及
第二光学元件,使形成所述一部分主扫描线的光束中处于与所述第一主扫描范围更靠近所述主扫描方向的另一边缘侧的位置并通过与所述第一主扫描范围不重叠的第二主扫描范围的光束越靠近所述另一边缘侧越强地向所述另一边缘侧折射。
3.根据权利要求2所述的光扫描装置,其特征在于,
所述第一光学元件和所述第二光学元件的所述光束通过的面分别为平面。
4.根据权利要求2所述的光扫描装置,其特征在于,
所述第一光学元件和所述第二光学元件配置为在主扫描方向上相邻,
所述光扫描装置包括第一边界控制部,所述第一边界控制部在所述光束通过所述第一光学元件和所述第二光学元件的边界附近的规定范围的期间熄灭所述光束。
5.根据权利要求2所述的光扫描装置,其特征在于,
在所述一部分主扫描线中,由通过所述第一光学元件的光束形成的第一部分主扫描线与由通过所述第二光学元件的光束形成的第二部分主扫描线之间存在间隙,
所述剩余的主扫描线至少覆盖具有所述间隙的主扫描方向范围。
6.根据权利要求1所述的光扫描装置,其特征在于,
所述一部分主扫描线分布的第一副扫描范围和所述剩余的主扫描线分布的第二副扫描范围在该光扫描装置的外部至少部分重叠。
7.根据权利要求6所述的光扫描装置,其特征在于,
所述调整部包括:
第三光学元件,使形成所述一部分主扫描线的光束和形成所述剩余的主扫描线的光束中的一者或两者向所述第一副扫描范围和所述第二副扫描范围重合的方向折射。
8.根据权利要求7所述的光扫描装置,其特征在于,
包括第二边界控制部,所述第二边界控制部在所述光束形成所述一部分主扫描线的期间与所述光束形成所述剩余的主扫描线的期间的边界附近的规定期间熄灭所述光束。
9.根据权利要求1所述的光扫描装置,其特征在于,
所述扫描部通过光束的发光控制形成相互平行所述多条主扫描线,
在由所述调整部进行调整之后,在所述一部分主扫描线上,与所述剩余的主扫描线上相比,由所述光束形成的光点稀疏。
10.根据权利要求9所述的光扫描装置,其特征在于,包括:
获取部,获取从所述扫描部的出射光束在所述主扫描方向上的位置与通过该位置的光束在由所述调整部进行调整后出射的方向之间的对应关系;以及
周期控制部,基于从所述扫描部的出射光束在所述主扫描方向上的位置和所述获取部获取的对应关系来控制所述光束的点亮间隔。
11.根据权利要求9所述的光扫描装置,其特征在于,
获取部,将从所述扫描部的出射光束在所述主扫描方向上的位置与通过该位置的光束在由所述调整部进行调整后出射的方向之间的对应关系与从所述扫描部的出射光束在副扫描方向上的位置对应地获取;以及
周期控制部,基于从所述扫描部的出射光束在所述主扫描方向上的位置及在所述副扫描方向上的位置和所述获取部获取的对应关系来控制所述光束的点亮间隔。
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