[发明专利]一种尺寸测量装置及应用于该装置的尺寸测量方法

权利要求书

1.一种尺寸测量装置，其特征在于，其包括：

工作台，其具有一用于置放工件的工作平面；

转动部，其能够绕一垂直于所述工作平面的转动轴转动；

驱动装置，其能够驱动所述转动部绕所述转动轴转动，并于一周的转动路径内在不同的转动角度停留；

测距传感器，其滑动地设置于所述转动部朝向所述工作平面的一侧，且其滑动方向指向所述转动轴；

控制器，其能够在所述转动部处于一停留位置时，控制所述测距传感器测量其与所述工件间的距离，且能够在所述转动部转动一周时控制所述测距传感器沿所述滑动方向滑动一预设距离。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述控制器还能够在所述转动部转动之前，控制所述测距传感器测量其与所述工作平面间的初始距离。

3.如权利要求2所述的装置，其特征在于，还包括：

处理器，其能够对所述测距传感器测得的与所述工件间的距离和所述初始距离进行差值计算，得到所述工件的最大高度和最小高度。

4.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述转动部在一周的转动路径内停留时，形成有多个所述停留位置，多个所述停留位置将所述转动路径等分为多个转动行程，相邻两个所述转动行程的距离相等。

5.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述控制器在控制所述测距传感器滑动时，在滑动轨迹上形成有多个停顿点，多个所述停顿点将所述滑动轨迹等分为多个滑动行程，相邻两个所述滑动行程的距离相等。

6.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测距传感器在所述转动部中滑动时，其朝向所述转动轴滑动，或者背离所述转动轴滑动。

7.一种尺寸测量方法，其特征在于，应用于上述权利要求1-6任一项所述的装置，包括：

确定所述测距传感器到所述工作平面的初始距离，得到第一测量数据；

当所述测距传感器在所述转动路径中的任一所述转动角度停留时，测量其与所述工件间的距离，得到第二测量数据；

直到所述测距传感器完成一周的转动之后，沿所述滑动方向滑动一预设距离；

对所述第一测量数据和所述第二测量数据进行差值计算，确定所述工件的最大高度和最小高度。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，对所述第一测量数据和所述第二测量数据进行差值计算，确定所述工件的最大高度和最小高度，包括：

将所述最大差值确定为所述最小高度，以及将所述最小差值确定为所述最大高度。