[发明专利]一种闪断SSD硬盘电源的自动化测试方法及装置在审
申请号: | 201911349771.0 | 申请日: | 2019-12-24 |
公开(公告)号: | CN111104275A | 公开(公告)日: | 2020-05-05 |
发明(设计)人: | 李家敏 | 申请(专利权)人: | 湖南国科微电子股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 逯长明;许伟群 |
地址: | 410131 湖南省长*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 ssd 硬盘 电源 自动化 测试 方法 装置 | ||
1.一种闪断SSD硬盘电源的自动化测试方法,其特征在于,所述方法包括:
搭建自动测试环境;
检查所述自动测试环境,并获取所述自动测试环境下的被测SSD硬盘数据;
在所述自动测试环境下,对所述被测SSD硬盘进行闪断、重启操作;
检测所述被测SSD硬盘闪断前后的数据一致性。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,搭建自动测试环境包括:
分别搭建测试主机、执行主机、PDU电源控制器;
将所述测试主机与所述执行主机分别与所述PDU电源控制器连接;
将被测SSD硬盘分别与测试主机、电源连接,并将所述被测SSD硬盘放入温箱中。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,搭建自动测试环境,还包括:
预定义识别所述被测SSD硬盘的唯一标识;
预定义所述被测SSD硬盘的盘片数量;
预定义所述被测主机的IP信息;
预定义所述温箱的IP信息与所述温箱配置的参数;
预定义所述PDU电源控制器的IP信息;
预定义掉电上电的PDU电源控制器的slot号;
预定于测试次数与测试时间。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,检查所述自动测试环境,包括:
检查所述测试主机、所述执行主机、所述PDU电源控制器、所述被测SSD硬盘、与所述电源之间的连接是否正常;
检查预配置的测试参数是否在正常范围内;
检查所有被测SSD硬盘是否能找到;
检查所述PDU电源控制器掉电上电是否正常;
若检查有异常,则收集异常日志,发送异常报告并停止测试。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,获取所述自动测试环境下的被测SSD硬盘数据,包括:
查找所述被测SSD硬盘的盘符号,读取所述SSD硬盘的初始状态信息;
检查掉电上电日志记录与所述被测SSD硬盘初始连接的信息,检查所述被测SSD硬盘状态;
判断当前测试次数与测试时间是否小于预设值;
若当前测试次数与测试时间小于预设值,则配置所述温箱温度;
控制所述温箱内的被测SSD硬盘下发IO业务,保存所述被测SSD硬盘写入数据。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,在所述自动测试环境下,对被测SSD硬盘进行闪断、重启操作,包括:
通过所述PDU电源控制器控制所述电源闪断,以控制所述被测SSD硬盘掉电;
闪断多次后,通过所述PDU电源控制器控制打开所述电源。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,检测所述被测SSD硬盘闪断前后的数据一致性,包括:
查找所述被测SSD硬盘的盘符号,读取所述SSD硬盘的状态信息;
检查当前掉电上电日志记录与所述被测SSD硬盘连接的信息,检查所述被测SSD硬盘状态;
配置温箱温度;
读取所述温箱内所述被测SSD硬盘闪断后的测试数据;
判断所述被测SSD硬盘闪断前后的测试数据是否一致。
8.一种闪断SSD硬盘电源的自动化测试装置,其特征在于,包括:
环境搭建模块,用于搭建自动测试环境;
检查模块,用于检查所述自动测试环境,并获取所述自动测试环境下的被测SSD硬盘数据;
闪断重启模块,用于在所述自动测试环境下,对所述被测SSD硬盘进行闪断、重启操作;
检测模块,用于检测所述被测SSD硬盘闪断前后的数据一致性。
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述检查模块包括:
第一检查子单元,用于检查所述自动测试环境是否正常;
获取单元,用于在所述自动测试环境下控制所述被测SSD硬盘下发IO业务,保存所述SSD硬盘写入数据。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述检测模块包括:
第二检查子单元,用于检查闪断后自动测试环境是否正常;
读取单元,用于读取所述被测SSD硬盘闪断后的测试数据;
检测单元,用于判断所述被测SSD硬盘闪断前后的测试数据是否一致。
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