[发明专利]测试装置、方法及可读存储介质

说明书

本发明实施例提供了一种测试装置、方法及可读存储介质，涉及设备测试技术领域，其中，上述测试装置，包括射频切换控制箱、测试仪器以及控制器；所述射频切换控制箱分别与所述测试仪器和待测设备连接，所述控制器分别与所述测试仪器和所述射频切换控制箱连接；所述控制器用于获取测试计划，根据所述测试计划中的每一个测试项，分别对所述射频切换控制箱进行配置，分别获取每次对所述射频切换控制箱进行配置后，从所述测试仪器输出的至少一个测试结果，其中，所述测试计划中包括至少一个测试项。能够根据测试计划的测试项，自动对待测设备的相关参数分别进行测试，提高自动化程度，节省测试人力与时间成本。

技术领域

本发明涉及设备测试技术领域，尤其涉及一种测试装置、方法及可读存储介质。

背景技术

众所周知，窄带物联网(Narrow Band Internet of Things,NB-IoT)为万物互联网络(即物联网)的一个重要分支，而NB-IoT终端由于具有速度快、功耗低等优势，在物联网技术领域中得到了比较广泛的应用。

NB-IoT终端的参数是否准确设置，关系到其能否在应用场合中正常工作，因此，在NB-IoT终端使用过程中，需要对其参数进行测试与校准。现有技术在对NB-IoT终端这类射频发射设备的各项参数进行测试时，需要通常人工使用测试仪表逐一测试，导致整个测试过程费时费力。

发明内容

本发明实施例提供一种测试装置、方法及可读存储介质，以解决现有技术在对NB-IoT终端这类射频发射设备的各项参数进行测试时，需要人工使用测试仪表逐一测试，导致整个测试过程费时费力的问题。

为了解决上述技术问题，本发明是这样实现的：

本发明实施例提供了一种测试装置，包括射频切换控制箱、测试仪器以及控制器；所述射频切换控制箱分别与所述测试仪器和待测设备连接，所述控制器分别与所述测试仪器和所述射频切换控制箱连接；

所述控制器用于获取测试计划，根据所述测试计划中的每一个测试项，分别对所述射频切换控制箱进行配置，分别获取每次对所述射频切换控制箱进行配置后，从所述测试仪器输出的至少一个测试结果，其中，所述测试计划中包括至少一个测试项。

本发明实施例还提供了一种测试方法，应用于上述的测试装置，所述方法包括：

获取测试计划；

根据所述测试计划中的每一个测试项，分别对所述射频切换控制箱进行配置，其中，所述测试计划中包括至少一个测试项；

分别获取每次对所述射频切换控制箱进行配置后，从所述测试仪器输出的至少一个测试结果。

本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的测试方法的步骤。

本发明实施例中，控制器能够根据测试计划中的测试项，对射频切换控制箱进行配置，并分别获取每次对所述射频切换控制箱进行配置后，从所述测试仪器输出的至少一个测试结果，进而能够根据测试计划的测试项，自动对待测设备的相关参数分别进行测试，提高自动化程度，节省测试人力与时间成本。

附图说明

图1为本发明实施例提供的测试装置的结构示意图；

图2为本发明实施例中射频切换控制箱内部构造及与外接设备连接的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的测试方法的流程图；

图4为本发明实施例中对测试项复测的流程图；

图5为应用到本发明实施例提供的测试方法的一个具体应用实施例的流程图。

具体实施方式