[发明专利]一种共焦测厚中双传感器位姿的透明圆孔标定方法有效
申请号: | 201911355038.X | 申请日: | 2019-12-25 |
公开(公告)号: | CN110926397B | 公开(公告)日: | 2021-06-04 |
发明(设计)人: | 李加福;朱小平;杜华;王凯;赵沫;赵彦龙 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | G01B21/04 | 分类号: | G01B21/04;G01B21/08 |
代理公司: | 北京市恒有知识产权代理事务所(普通合伙) 11576 | 代理人: | 王贵良 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 共焦测厚中双 传感器 透明 圆孔 标定 方法 | ||
1.一种共焦测厚中双传感器位姿的透明圆孔标定方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一:装夹圆孔薄膜,用两片薄膜装夹薄片夹住圆孔薄膜,圆孔薄膜的通孔透过薄膜装夹薄片中心的圆孔放置,薄膜装夹薄片对角线两端分别设有定位孔,薄膜装夹薄片通过所述定位孔平行安装于工作台上,随工作台移动;
步骤二:用设置在圆孔薄膜上方的上传感器扫描圆孔薄膜的上表面,用设置在圆孔薄膜下方的下传感器扫描圆孔薄膜的下表面,根据上下传感器获取的Z轴位置信息和从工作台获取的X轴、Y轴位置信息,拟合圆孔薄膜上下表面通孔,其中,上下传感器均为光谱共焦位移传感器;
步骤三:根据拟合表面通孔图像中留下的月牙形残影,计算得到传感器的偏转角度;再借助外部传感器角度调整机构调整上下传感器垂直于工作面;
步骤四:再次用上传感器扫描圆孔薄膜上表面,用下传感器扫描圆孔薄膜下表面,根据上下传感器获取的Z轴位置信息和工作台获取的X轴、Y轴位置来拟合圆孔薄膜上下表面圆孔圆心,获得上下表面拟合圆心的位置;
步骤五:根据拟合圆心的位置,计算出传感器X轴方向上的偏移量和Y方向上的偏移量,调整上下传感器共轴对准;
步骤六:利用透明圆孔薄膜的透明性,使得上下传感器同时测量圆孔薄膜同一表面同一点,然后通过折射率补偿上传感器的示值,完成上下传感器的位姿标定。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量科学研究院,未经中国计量科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911355038.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。