[发明专利]一种环状物缺陷检测方法

权利要求书

1.一种环状物缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤S1，在三维坐标体系里生成环状物边缘一圈的点云数据；

步骤S2，计算出这些点云中能支撑环状物边缘到一个假定平面的唯一的三个支撑点A、B和C；

步骤S3，利用这三个支撑点A、B和C形成一个唯一的平面；

步骤S4，计算点云中所有点到这个平面之间的投射距离；

步骤S5，判断计算出来的距离是否大于阈值；

所述步骤S1和步骤S2，首先在三维坐标体系里生成环状物的三维点云数据，假定有一个虚拟的平面去接触到环状物边缘的三维模型，此时环状物边缘的三维点云中必定有且仅有三个点与该虚拟平面接触，那这三个点就起到了主要支撑的作用，也就是该环状物的重力平衡落脚点A、B和C；

所述步骤S3和步骤S4，然后通过数学迭代的方法计算出这三个支撑点A、B和C的具体坐标值，然后再通过数学推导方法通过这三个点计算出一个唯一的平面R，然后再将环状物边缘点云中的其他所有的点投射到这个唯一的平面R上，计算出垂直距离。

2.如权利要求1所述的一种环状物缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤S5，经过统计分析，若有多个点到平面之间的垂直距离大于了检测规定的阈值范围，则说明该环状物边缘的平整度达不到规定的要求，属于残次品。

3.如权利要求1所述的一种环状物缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤S5，若仅有个别点到平面之间的垂直距离超过了阈值范围，则有可能是由于高光或毛刺等因素造成的可以忽略。

4.如权利要求1～3任一所述的一种环状物缺陷检测方法，其特征在于，所述环状物为手机中框或者手机后盖或者手机卡托。