[发明专利]一种动态检测对象的成像补偿方法、装置、设备和介质有效
申请号: | 201911359133.7 | 申请日: | 2019-12-25 |
公开(公告)号: | CN111077521B | 公开(公告)日: | 2023-07-18 |
发明(设计)人: | 杨明辉;吴亮;孙晓玮 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | G01S13/89 | 分类号: | G01S13/89;G01V8/00;G01V8/10 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;贾允 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 动态 检测 对象 成像 补偿 方法 装置 设备 介质 | ||
1.一种动态检测对象的成像补偿方法,其特征在于,所述方法包括:
获取动态检测对象在运动过程中的动态回波数据,所述动态回波数据为稀疏阵列中的子阵列单元获得的回波数据;
基于所述动态检测对象的运动电磁模型,对所述动态回波数据进行包络校正,得到所述动态回波数据的包络校正数据;
基于所述动态检测对象的运动电磁模型,对所述包络校正数据进行相位校正,得到所述动态回波的回波校正数据;
根据所述回波校正数据,得到所述动态检测对象的图像信息;
所述基于所述动态检测对象的运动电磁模型,对所述动态回波数据进行包络校正,得到所述动态回波数据的包络校正数据,包括:
获取所述动态回波数据中各个子阵列单元的回波包络;
对所述回波包络进行逐级分块处理,得到多个块包络;
基于所述动态检测对象的运动电磁模型,获取每个块包络对应的块包络偏移数据;
根据预设的拟合函数,对所述块包络偏移数据进行拟合,得到所述回波包络的包络偏移数据;
根据所述包络偏移数据,对所述动态回波数据进行包络对齐,得到所述动态回波数据的包络校正数据。
2.根据权利要求1所述的一种动态检测对象的成像补偿方法,其特征在于,所述基于所述动态检测对象的运动电磁模型,对所述动态回波数据进行包络校正,得到所述动态回波数据的包络校正数据,还包括:
获取所述动态回波数据中各个子阵列单元的回波包络;
基于所述动态检测对象的运动电磁模型,获取所述回波包络的时延参数;
将所述回波包络的时延参数作为包络补偿数据,对所述动态回波数据进行包络校正,得到所述动态回波数据的包络校正数据。
3.根据权利要求2所述的一种动态检测对象的成像补偿方法,其特征在于,所述基于所述动态检测对象的运动电磁模型,获取所述回波包络的时延参数包括:
计算相邻的子阵列单元中的回波包络的熵;
根据所述运动电磁模型中的参考数据,获取所述回波包络的熵的最小值对应的时延数据;
将所述熵的最小值对应的时延数据确定为时延参数。
4.根据权利要求2所述的一种动态检测对象的成像补偿方法,其特征在于,所述基于所述动态检测对象的运动电磁模型,获取所述回波包络的时延参数包括:
根据预设的互相关算法,计算相邻的子阵列单元中的回波包络的互相关系数;
根据所述运动电磁模型中的参考数据,获取所述互相关系数的峰值对应的时延数据;
将所述互相关系数的峰值对应的时延数据确定为时延参数。
5.根据权利要求1所述的一种动态检测对象的成像补偿方法,其特征在于,所述基于所述动态检测对象的运动电磁模型,对所述动态回波数据进行相位校正,得到所述动态回波数据的回波校正数据包括:
基于所述动态检测对象的运动电磁模型,获取目标特显点相对于不同的子阵列单元的源斜距差,所述目标特显点为回波信号中成像质量高的散射点;
根据所述源斜距差,确定所述目标特显点对应的源相位差;
根据预设的数据估计算法,确定所述目标特显点相对于所述不同子阵列单元的估计相位差;
根据所述源相位差和所述估计相位差,确定所述动态回波数据对应的相位差;
根据所述相位差,对所述动态回波数据进行相位校正,得到所述动态回波数据的回波校正数据。
6.根据权利要求1所述的一种动态检测对象的成像补偿方法,其特征在于,所述基于所述动态检测对象的运动电磁模型,对所述动态回波数据进行相位校正,得到所述动态回波数据的回波校正数据包括:
基于所述动态检测对象的运动电磁模型,通过预设的多特显点算法获取每个块包络对应的块相位差;
根据预设的拟合函数,对所述块相位差进行拟合,得到所述回波包络的相位差;
根据所述相位差,对所述动态回波数据进行相位校正,得到所述动态回波数据的回波校正数据。
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