[发明专利]一种动态检测对象的成像补偿方法、装置、设备和介质有效

专利信息
申请号: 201911359133.7 申请日: 2019-12-25
公开(公告)号: CN111077521B 公开(公告)日: 2023-07-18
发明(设计)人: 杨明辉;吴亮;孙晓玮 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: G01S13/89 分类号: G01S13/89;G01V8/00;G01V8/10
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫;贾允
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 动态 检测 对象 成像 补偿 方法 装置 设备 介质
【权利要求书】:

1.一种动态检测对象的成像补偿方法,其特征在于,所述方法包括:

获取动态检测对象在运动过程中的动态回波数据,所述动态回波数据为稀疏阵列中的子阵列单元获得的回波数据;

基于所述动态检测对象的运动电磁模型,对所述动态回波数据进行包络校正,得到所述动态回波数据的包络校正数据;

基于所述动态检测对象的运动电磁模型,对所述包络校正数据进行相位校正,得到所述动态回波的回波校正数据;

根据所述回波校正数据,得到所述动态检测对象的图像信息;

所述基于所述动态检测对象的运动电磁模型,对所述动态回波数据进行包络校正,得到所述动态回波数据的包络校正数据,包括:

获取所述动态回波数据中各个子阵列单元的回波包络;

对所述回波包络进行逐级分块处理,得到多个块包络;

基于所述动态检测对象的运动电磁模型,获取每个块包络对应的块包络偏移数据;

根据预设的拟合函数,对所述块包络偏移数据进行拟合,得到所述回波包络的包络偏移数据;

根据所述包络偏移数据,对所述动态回波数据进行包络对齐,得到所述动态回波数据的包络校正数据。

2.根据权利要求1所述的一种动态检测对象的成像补偿方法,其特征在于,所述基于所述动态检测对象的运动电磁模型,对所述动态回波数据进行包络校正,得到所述动态回波数据的包络校正数据,还包括:

获取所述动态回波数据中各个子阵列单元的回波包络;

基于所述动态检测对象的运动电磁模型,获取所述回波包络的时延参数;

将所述回波包络的时延参数作为包络补偿数据,对所述动态回波数据进行包络校正,得到所述动态回波数据的包络校正数据。

3.根据权利要求2所述的一种动态检测对象的成像补偿方法,其特征在于,所述基于所述动态检测对象的运动电磁模型,获取所述回波包络的时延参数包括:

计算相邻的子阵列单元中的回波包络的熵;

根据所述运动电磁模型中的参考数据,获取所述回波包络的熵的最小值对应的时延数据;

将所述熵的最小值对应的时延数据确定为时延参数。

4.根据权利要求2所述的一种动态检测对象的成像补偿方法,其特征在于,所述基于所述动态检测对象的运动电磁模型,获取所述回波包络的时延参数包括:

根据预设的互相关算法,计算相邻的子阵列单元中的回波包络的互相关系数;

根据所述运动电磁模型中的参考数据,获取所述互相关系数的峰值对应的时延数据;

将所述互相关系数的峰值对应的时延数据确定为时延参数。

5.根据权利要求1所述的一种动态检测对象的成像补偿方法,其特征在于,所述基于所述动态检测对象的运动电磁模型,对所述动态回波数据进行相位校正,得到所述动态回波数据的回波校正数据包括:

基于所述动态检测对象的运动电磁模型,获取目标特显点相对于不同的子阵列单元的源斜距差,所述目标特显点为回波信号中成像质量高的散射点;

根据所述源斜距差,确定所述目标特显点对应的源相位差;

根据预设的数据估计算法,确定所述目标特显点相对于所述不同子阵列单元的估计相位差;

根据所述源相位差和所述估计相位差,确定所述动态回波数据对应的相位差;

根据所述相位差,对所述动态回波数据进行相位校正,得到所述动态回波数据的回波校正数据。

6.根据权利要求1所述的一种动态检测对象的成像补偿方法,其特征在于,所述基于所述动态检测对象的运动电磁模型,对所述动态回波数据进行相位校正,得到所述动态回波数据的回波校正数据包括:

基于所述动态检测对象的运动电磁模型,通过预设的多特显点算法获取每个块包络对应的块相位差;

根据预设的拟合函数,对所述块相位差进行拟合,得到所述回波包络的相位差;

根据所述相位差,对所述动态回波数据进行相位校正,得到所述动态回波数据的回波校正数据。

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