[发明专利]频率跟踪测量方法及装置

权利要求书

1.一种频率跟踪测量方法，其特征在于，包括：

依据预设采样频率对原始波形进行采样，得到第一采样结果，并对所述第一采样结果进行正交基傅里叶变换，得到第一偏移频率；

依据预设相移长度对所述原始波形进行移相，得到移相波形；

依据所述预设采样频率对所述移相波形进行采样，得到第二采样结果，并对所述第二采样结果进行正交基傅里叶变换，得到第二偏移频率；

依据所述第一偏移频率和所述第二偏移频率确定移相对消频率；

依据所述移相对消频率和系统额定频率确定所述原始波形的频率。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，依据预设采样频率对原始波形进行采样，得到第一采样结果，并对所述第一采样结果进行正交基傅里叶变换，得到第一偏移频率，包括：

依据所述预设采样频率在第i个预设时刻对所述原始波形进行AD采样，得到第i个原始AD数据；

对所述第i个原始AD数据进行正交基傅里叶变换，得到所述第i个原始AD数据的实部和虚部；

依据所述实部和所述虚部确定所述原始波形在所述第i个预设时刻的相位；

依据所述原始波形在所述第i个预设时刻的相位和在第i+1个预设时刻的相位确定所述第一偏移频率；其中，i≥1。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，依据所述实部和所述虚部得到所述原始波形在所述第i个预设时刻的相位，包括：

依据所述实部和所述虚部进行计算，得到所述原始波形在所述第i个预设时刻的相角值；

依据所述相角值确定所述原始波形在所述第i个预设时刻的相位。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，依据所述预设采样频率对所述移相波形进行采样，得到第二采样结果，并对所述第二采样结果进行正交基傅里叶变换，得到第二偏移频率，包括：

依据所述预设采样频率在第i个预设时刻对所述移相波形进行AD采样，得到第i个移相AD数据；

对所述第i个移相AD数据进行正交基傅里叶变换，得到所述第i个移相AD数据的实部和虚部；

依据所述实部和所述虚部确定所述移相波形在所述第i个预设时刻的相位；

依据所述移相波形在所述第i个预设时刻的相位和在第i+1个预设时刻的相位；

依据所述相波形在所述第i个预设时刻的相位和在第i+1个预设时刻的相位确定所述第二偏移频率；其中，i≥1。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，依据所述实部和所述虚部确定所述移相波形在所述第i个预设时刻的相位，包括：

依据所述实部和所述虚部进行计算，得到所述移相波形在所述第i个预设时刻的相角值；

依据所述相角值确定所述移相波形在所述第i个预设时刻的相位。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，依据所述第一偏移频率和所述第二偏移频率确定移相对消频率，包括：

对所述第一偏移频率和所述第二偏移频率取平均值；

将所述平均值作为所述移相对消频率。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，依据所述移相对消频率和系统额定频率确定所述原始波形的频率，包括：

将所述移相对消频率和所述系统额定频率相加，得到所述原始波形的频率。

8.根据权利要求1至7中任意一项所述的方法，其特征在于，依据所述移相对消频率和系统额定频率确定所述原始波形的频率之后，所述方法还包括：

判断所述预设相移长度是否改变；

在判断结果为是的情况下，初始化所述预设相移长度。