[发明专利]一种MCU用户程序代码的保护结构及其熔断测试方法在审
| 申请号： | 201911360842.7 | 申请日： | 2019-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN111209186A | 公开（公告）日： | 2020-05-29 |
| 发明（设计）人： | 李京;汪成喜;胡乃全;朱建国;徐栋麟 | 申请（专利权）人： | 上海亮牛半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F21/12 |
| 代理公司： | 大连科技专利代理有限责任公司 21119 | 代理人： | 龙锋 |
| 地址： | 201207 上海市浦东新区中国*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 mcu 用户 程序代码 保护 结构 及其 熔断 测试 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种MCU用户程序代码的保护结构， MCU的调试模块通过中央处理单元与片上闪存连通，所述调试模块与调试接口连通，其特征在于：所述调试模块与调试接口之间连有电子熔丝，所述电子熔丝连有电子熔丝控制器。
2.如权利要求1所述的一种MCU用户程序代码的保护结构，其特征在于：所述电子熔丝控制器设置有地址寄存器、使能熔断寄存器，所述地址寄存器用于写入需要熔断的电子熔丝的地址，所述使能熔断寄存器用于熔断电子熔丝。
3.如权利要求2所述的一种MCU用户程序代码的保护结构，其特征在于：所述调试接口对应地址寄存器偏移地址比特1，当使能熔断寄存器写入比特1，电子熔丝熔断。
4.一种MCU用户程序代码的保护结构的熔断测试方法，其特征在于包括以下步骤：
S1、MCU正常上电，通过MCU的程序配置并打开电子熔丝控制器；
S2、将需要熔断的电子熔丝的地址写入电子熔丝控制器中的地址寄存器中，调试接口对应地址寄存器偏移地址比特1；
S3、电子熔丝控制器的使能熔断寄存器写入比特1，从而将与调试接口连接的电子熔丝熔断；
S4、MCU重新上电，调试接口尝试连接调试模块，如果电子熔丝正常熔断，则调试接口无法连接MCU，如果调试接口仍可以连接MCU，则电子熔丝没有正常熔断，继续重复S2、S3步骤，直至电子熔丝熔断为止。
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