[发明专利]一种目标检测方法、装置、稀疏阵列和成像设备

权利要求书

1.一种目标检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取天线的源稀疏阵列；

根据所述源稀疏阵列，确定所述源稀疏阵列中各个阵列单元的坐标；

获取子阵列单元，所述子阵列单元的单元级别小于阵列单元；

根据所述各个阵列单元的坐标，将所述源稀疏阵列中的每个阵列单元替换为多个子阵列单元，得到由子阵列单元构建的目标稀疏阵列；

根据所述目标稀疏阵列，对动态的待检测对象进行毫米波成像，得到所述动态的待检测对象的图像信息。

2.根据权利要求1所述的一种目标检测方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据所述各个阵列单元的坐标，将所述源稀疏阵列中的阵列单元部分替换为多个子阵列单元，得到由子阵列单元和阵列单元构建的目标稀疏阵列。

3.根据权利要求1所述的一种目标检测方法，其特征在于，所述根据所述目标稀疏阵列，对动态的待检测对象进行毫米波成像，得到所述动态的待检测对象的图像信息包括：

根据所述目标稀疏阵列的阵列信息，确定所述动态的待检测对象；

对子阵列单元的波束进行调整，得到子阵列单元的波束对所述动态的待检测对象的波束最大覆盖范围；

基于所述波束最大覆盖范围，对动态的待检测对象进行毫米波成像，得到所述动态的待检测对象的图像信息。

4.根据权利要求3所述的一种目标检测方法，其特征在于，所述对子阵列单元的波束进行控制，得到子阵列单元的波束对所述动态的待检测对象的波束最大覆盖范围包括：

基于预设的重构算法，对所述子阵列单元进行幅度重构和相位重构；

根据幅度重构的结果和相位重构的结果，对所述子阵列单元的波束范围进行调整，得到子阵列单元的波束对所述动态的待检测对象的波束最大覆盖范围。

5.根据权利要求3所述的一种目标检测方法，其特征在于，所述对子阵列单元的波束进行控制，得到子阵列单元的波束对所述动态的待检测对象的波束最大覆盖范围包括：

基于预设的矢量调制器，对所述子阵单元进行幅相调制；

根据所述幅相调制的结果，对所述子阵列单元的波束范围进行调整，得到子阵列单元的波束对所述动态的待检测对象的波束最大覆盖范围。

6.根据权利要求3所述的一种目标检测方法，其特征在于，所述基于所述波束最大覆盖范围，对动态的待检测对象进行毫米波成像，得到所述动态的待检测对象的图像信息包括：

基于所述波束最大覆盖范围，在当前频点控制所述目标稀疏阵列中的发射子阵列单元依次发射波束信号；

在当前频点控制所述目标稀疏阵列中的接收子阵列单元接收回波信号；

对所述回波信号进行信号处理，得到所述动态的待检测对象的图像信息。

7.根据权利要求6所述的一种目标检测方法，其特征在于，所述方法还包括：

当所述目标稀疏阵列中的自阵列单元完成当前频点波束的发射和接收后，根据预设的锁相本振组，切换到下一频点进行波束的发射和接收。

8.一种目标检测装置，其特征在于，所述装置包括：源稀疏阵列获取模块、阵列单元坐标确定模块、子阵列单元获取模块、初始稀疏阵列获得模块和目标检测模块；

所述源稀疏阵列获取模块用于获取源稀疏阵列，所述源稀疏阵列用于检测静态的待检测对象；

所述阵列单元坐标确定模块用于根据所述源稀疏阵列，确定所述源稀疏阵列中各个阵列单元的坐标；

所述子阵列单元获取模块用于获取子阵列单元，所述子阵列单元的单元级别小于阵列单元；

所述初始稀疏阵列获得模块用于根据所述各个阵列单元的坐标，将每个阵列单元替换为多个子阵列单元，得到由子阵列单元构建的目标稀疏阵列；

所述目标检测模块用于根据所述目标稀疏阵列，对动态的待检测对象进行毫米波成像，得到所述动态的待检测对象的图像信息。