[发明专利]晶体硅切割废料制备超冶金级硅的方法在审
申请号: | 201911363667.7 | 申请日: | 2019-12-25 |
公开(公告)号: | CN110963493A | 公开(公告)日: | 2020-04-07 |
发明(设计)人: | 王志;钱国余;王东;庞昇 | 申请(专利权)人: | 中国科学院过程工程研究所 |
主分类号: | C01B33/037 | 分类号: | C01B33/037 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 吴梦圆 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 晶体 切割 废料 制备 冶金 方法 | ||
1.一种晶体硅切割废料制备超冶金级硅的方法,其特征在于,包括:
(1)将晶体硅切割废料进行第一次预处理后得到晶体硅粗选料浆液,将粗选料浆液经第二次预处理后得到净化精选料;
(2)将步骤(1)得到的净化精选料经压块处理后得到第一精选料块,将第一精选块料经控氧熔炼精炼处理后渣、硅分离,得到第一熔体硅和第一精炼渣;
(3)将第一熔体硅和/或第一精炼渣进行杂质化学重构后得到第一改性固体硅和/或第二改性固体硅;
其中,所述第一熔体硅的化学重构方法包括:向第一熔体硅中加入杂质重构剂,经控氧、搅拌、控速冷却处理,得到第一改性固体硅;所述杂质重构剂包括Ca、Al、Ti、Sn、Cu、Ce、La、Pr、Nd中的至少一种;
其中,所述第一精炼渣的化学重构方法包括:向第一精炼渣中添加金属氧化物,在控氧、搅拌处理的同时利用渣硅界面氧化还原反应进行杂质化学重构,经渣/硅分离、控速冷却处理后得到第二改性固体硅;所述金属氧化物包括CaO、MgO、Al2O3、TiO2、Cr2O3、MnOx、SrO、Ce2O3、PbO中至少一种;
(4)将步骤(3)得到的第一改性固体硅和/或第二改性固体硅中的重构杂质相去除后得到所述超冶金级硅。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
步骤(1)中所述第一次预处理的方法包括破碎分级、浆液配制、物理离心中的至少一种;
步骤(1)中所述第二次预处理的方法包括固液分离、酸洗除杂、水洗、干燥中的至少一种;
步骤(2)中所述压块处理方法包括将净化精选料与粘结剂混合后压制、烘干;
步骤(2)中所述控氧熔炼精炼处理步骤包括控氧处理和渣洗处理;
其中,所述控氧处理的方法包括真空控氧或惰性气体保护控氧;
其中,所述渣洗处理包括将精选料块分多次放入熔渣中进行熔炼精炼,熔炼精炼温度大于1450℃。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
步骤(2)中所述控氧熔炼精炼处理步骤中熔渣与第一精选料块的质量比为0.1~0.5∶1。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,
所述的熔渣包括主剂和辅剂,所述主剂包括Na2O、SiO2中的至少一种;所述辅剂包括CaO、MgO、Al2O3、CaF2、NaF、FeOx、Na3AlF6、BaO、BaF2、TiO2、Cr2O3、B2O3、MnOx、K2O、ZrO2、ZnO、Li2O、SrO、Ce2O3、PbO、CaCl2、NaCl、KCl中的至少一种。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
所述控速冷却的方法包括匀速冷却、变速冷却或阶段性冷却,冷却速率为0.1~15℃/min。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
步骤(4)中所述超冶金级硅的纯度为大于99.99%;
步骤(4)中所述重构杂质相的去除方法包括将第一改性固体硅和/或第二改性固体硅经化学除杂处理后实现重构杂质相的去除。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院过程工程研究所,未经中国科学院过程工程研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911363667.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种提高耐电压与耐绝缘阻抗的电容器
- 下一篇:一种AT变速器油位检查螺栓总成