[发明专利]一种固态硬盘刷新方法、装置及固态硬盘有效
申请号: | 201911365120.0 | 申请日: | 2019-12-26 |
公开(公告)号: | CN111142797B | 公开(公告)日: | 2021-02-09 |
发明(设计)人: | 刘俊伟;崔金华;刘伟光;朱皓然;杨天若 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G06F3/06 | 分类号: | G06F3/06;G06F11/10 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 固态 硬盘 刷新 方法 装置 | ||
1.一种固态硬盘刷新方法,其特征在于,包括:
数据分类:获取数据的容错比特误码率TBER,若TBER=0,则将数据识别为精确数据;若TBER0,则将数据识别为近似数据;在近似数据中,若0TBER≤CBER,则将近似数据识别为低近似数据;若CBERTBER≤RBERmax,则将近似数据识别为中近似数据;若TBERRBERmax,则将近似数据识别为高近似数据;
数据分配:将固态硬盘中类型相同的近似数据进行聚类后,将属于相同聚类类别的近似数据分配到固态硬盘中相同的数据块中;
根据数据类型执行刷新操作:针对高近似数据,不进行刷新操作;针对精确数据或低近似数据,实时获取数据的原始比特误码率RBER,并在RBER=CBER时,采用传统刷新方法对固态硬盘进行刷新;针对中近似数据,若数据保留时间RT(TBER)与数据保留时间RT(CBER)之间的差值ΔRT≤threshold,则实时获取数据的原始比特误码率RBER,并在RBER=CBER时,采用传统刷新方法对固态硬盘进行刷新;针对中近似数据,若ΔRTthreshold,则实时获取数据的原始比特误码率RBER,并在RBER=CBER时,结合数据热度和增强型纠错码对固态硬盘进行刷新;
其中,CBER为固态硬盘中原始纠错码的可修正比特误码率;RBERmax为最大比特误码率,表示数据保留时间达到制造商提供的保证保留时间时,数据的原始比特误码率;数据保留时间RT(TBER)表示数据的原始比特误码率达到容错比特误码率时,数据的保留时间;数据保留时间RT(CBER)表示数据的原始比特误码率达到固态硬盘中原始纠错码的可修正比特误码率时,数据的保留时间;threshold为预设的阈值;增强型纠错码的可修正比特误码率高于固态硬盘原始纠错码的可修正比特误码率;
若ΔRTthreshold,则实时获取数据的原始比特误码率RBER,并在RBER=CBER时,结合数据热度和增强型纠错码对固态硬盘进行刷新,包括:
(S1)根据所读取数据的热度,将所读取的数据页分为冷读数据页和热读数据页,若为冷读数据页,则转入步骤(S2);否则,转入步骤(S6);
(S2)若RBER=CBER,则转入步骤(S3);若CBERRBER≤TBER,则转入步骤(S4);若TBERRBER≤RBERmax,则转入步骤(S5);
(S3)将数据读取出来后,利用原始纠错码进行错误修正,并根据第一增强型纠错码计算第一校验数据,之后转入步骤(S10);
(S4)直接读取原始的冷读数据页,并且不进行错误检查和修正,之后转入步骤(S10);
(S5)同时读取原始的冷读数据页和相应的第一校验数据后,利用第一增强型校验码对冷读数据页进行错误检查和修正,之后转入步骤(S10);
(S6)若RBER=CBER,则转入步骤(S7);若CBERRBERTBER,则转入步骤(S8);若RBER≥TBER,则转入步骤(S9);
(S7)将数据读取出来后,利用原始纠错码进行错误修正,并根据第二增强型纠错码计算第二校验数据,之后转入步骤(S10);
(S8)直接读取原始的热读数据页,并且不进行错误检查和修正,之后转入步骤(S10);
(S9)同时读取原始的热读数据页和相应的第二校验数据后,利用第二增强型校验码对热读数据页进行错误检查和修正,并将错误修正之后的热读数据页重新编程到固态硬盘中,之后转入步骤(S10);
(S10)刷新操作结束;
其中,第一增强型纠错码的可修正比特误码率CBER1≥RBERmax,第二增强型纠错码的可修正比特误码率CBER2≥TBER。
2.如权利要求1所述的固态硬盘刷新方法,其特征在于,还包括:
将计算得到的第一校验数据聚合,当聚合后的数据量超过一个数据页的大小时,将聚合后的数据编程到固态硬盘中,同时原始的冷读数据页仍然保持有效;
将计算得到的第二校验数据聚合,当聚合后的数据量超过一个数据页的大小时,将聚合后的数据编程到固态硬盘中,同时原始的热读数据页仍然保持有效。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911365120.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。