[发明专利]多路电容测试系统及方法

说明书

本发明公开了一种多路电容测试系统，包括供电电源、可调节恒流源、继电器单元、两个电子开关单元、电容放电单元、IO扩展单元、ADC单元及单片机，供电电源分别与可调节恒流源及单片机连接并供电，可调节恒流源与继电器单元连接并输出相应的恒流源，设置有多路电容的线路板分别与两个电子开关单元连接，IO扩展单元的输出端分别与两个电子开关单元的控制端连接，通过恒流源法测试电容的精度高，测试方法简单易行；恒流源测试电容测试的电压较为宽阔，易于测试；在测试多路阻抗电容时，能够通过电子开关快速切换实现单路连通方法进行测试；恒流源相对恒压源充电时间短很多，减少测试时间，测试效率高。本发明还公开了一种多路电容测试系统方法。

技术领域

本发明涉及电容测试领域，尤其涉及一种多路电容测试系统及方法。

背景技术

目前，电容测试技术是基于电容的充放电特性，无论是通过恒定电压法充电测试，还是通过RC震荡转换为相应的频率测试，都是利用了电容的充放电特性实现。恒定电压充电测试电容时，电容充电时其两端电压和充电时间呈指数特性，只要记录充电时间及充电前后的电压差值，便可以计算出电容容值；RC震荡测试电容时，是将待测电容与定值电阻共同放入RC震荡网络中产生震荡频率，测试出震荡频率便可以计算出电容容值。对此，市场上有很多测试电容的仪表仪器设备，可用于各类元器件的测试。

在针对PCBA的测试行业中，大多数则是采用恒定电压的方案对电容进行测试，该方案是通过恒定电压充电，测试充电时间和充电前后电压差，并利用反指数计算出所测电容。随着电子技术的高速发展，系统的模块化、集成化、高效化、智能化及自动化是测试行业的追求的方向。人们在测试电子性能方面都要求是高速率、高效率测试，而采用一种高效率的电容测试系统也是有必要的，这样可以有效地降低时间成本。

但是，现有的测试系统存在以下缺陷：

1、设计的体积较大，不易于集成化，适用场合不广泛；

2、恒定电压方案测试电容，需要测试充电前后电压，及充电时间，通过反指数计算误差较大，测试精度较低；

3、单电容测试时采用继电器的方式切换测试，相对测试时间较长；

4、多路电容测试时，效率较低，切换周期较长。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明的目的之一在于提供一种多路电容测试系统及方法，其能解决误差较大、测试精度较低及效率低的问题。

本发明的目的之一采用如下技术方案实现：

一种多路电容测试系统，包括供电电源、可调节恒流源、继电器单元、两个电子开关单元、电容放电单元、IO扩展单元、ADC单元及单片机，所述供电电源分别与所述可调节恒流源、继电器单元、所述电容放电单元、所述IO扩展单元、所述ADC单元及单片机连接并供电，所述可调节恒流源与所述继电器单元连接并输出相应的恒流源，设置有多路电容的线路板分别与两个所述电子开关单元连接，设置有多路电容的线路板上设置有若干待测电容，所述IO扩展单元的输入端与所述单片机连接，所述IO扩展单元的输出端分别与两个所述电子开关单元的控制端连接，所述ADC单元的输入端与多路电容的前端连接，所述ADC单元与所述单片机连接，所述单片机通过所述IO扩展单元和所述ADC单元进行数据收集、处理及控制开关。

进一步地，所述电容放电单元一端与所述待测电容的前端相连，另一端通过电阻接地。

进一步地，所述供电电源内设置有电源芯片，所述供电电源通过所述电源芯片进行供电。

进一步地，两个所述电子开关单元分别为电子开关单元一和电子开关单元二，所述电子开关单元一与所述待测电容的前端连接，所述电子开关单元二与所述待测电容的后端连接。