[发明专利]一种晶体振荡器测试装置及测试方法在审

专利信息
申请号: 201911368418.7 申请日: 2019-12-26
公开(公告)号: CN110954757A 公开(公告)日: 2020-04-03
发明(设计)人: 郄莉;彭慧丽;于德江;乔志峰;韩艳菊;苏霞 申请(专利权)人: 北京无线电计量测试研究所
主分类号: G01R29/26 分类号: G01R29/26;G01R1/04;G01M7/02
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 付生辉
地址: 100854 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 晶体振荡器 测试 装置 方法
【说明书】:

发明公开了一种晶体振荡器测试装置及测试方法,该装置包括振动测试台,还包括夹具和至少一个印刷电路板,所述夹具固定在所述振动测试台上,所述印刷电路板固定在所述夹具上,所述印刷电路板用于刚性电连接至少一个被测晶体振荡器。本发明通过设计可同时固定至少一个的被测晶体振荡器的夹具,以实现至少一个的被测晶体振荡器的同时测试;本发明还通过对被测晶体振荡器的四周进行固定的技术方案,以实现无需拆卸该测试装置而达到实时多次调测的目的。本发明可有效提高测试效率,降低了在振动测试时的外界噪声干扰,提高晶体振荡器测试的准确性,确保振动下被测晶体振荡器相位噪声指标的真实性。

技术领域

本发明涉及晶体振荡器测试领域,具体涉及一种晶体振荡器测试装置及测试方法。

背景技术

晶体振荡器因其良好的频率特性,常被用作时间频率基准,广泛应用于通信、雷达、导航和制导等系统中。在卫星发射升空、航天器在轨运行、飞机空中飞行等过程中,经常存在剧烈的振动,在振动环境下,晶体振荡器的稳定度大幅度降低相位噪声严重恶化,极大地影响了系统的性能。而地面模拟试验中,由于环境因素,其他干扰等多方面影响,往往无法得到晶体振荡器真实的振动相位噪声性能指标,因此如何在地面模拟试验过程中更准确便捷地测量的晶体谐振器的振动性能变得尤为重要。

并且,由于晶体振荡器的相位噪声极其敏感,测试中很容易受到晶体振荡器安装方式、电源线缆和测试线缆等的变化而产生较大波动,从而使动态相位噪声测试结果存在较大误差。传统的测试方法主要通过测试压条对被测晶体振荡器进行固定,通过晶体振荡器上的测试连线连接相位噪声测试仪进行指标测试。但该方法存在很大的局限性,首先测试时无法排除晶体振荡器本身附带产物的影响,如测试连线、电源线等。其次,由于被测试晶体振荡器可能需要多次调试,每次都需要将被测产品进行测试压条的拆卸安装,极大地影响了工作效率。

因此,需要提出一种晶体振荡器测试装置及测试方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种晶体振荡器测试装置及测试方法,以解决现有技术中存在的问题中的至少一个;

为达到上述目的,本发明采用下述技术方案:

本发明第一方面提供一种晶体振荡器测试装置,包括振动测试台,还包括夹具和至少一个印刷电路板,所述夹具固定在所述振动测试台上,所述印刷电路板固定在所述夹具上,所述印刷电路板用于刚性电连接至少一个被测晶体振荡器。

可选地,所述印刷电路板用于通过管簧固定所述至少一个被测晶体振荡器。

可选地,所述印刷电路板还设置有与至少一个被测晶体振荡器一一对应电连接的至少一个电源连接孔,用于引出电源线实现电源为至少一个被测晶体振荡器供电。

可选地,所述印刷电路板上还设置有与至少一个被测晶体振荡器一一对应电连接的至少一个信号转接头,用于引出测试线至相位噪声测试仪实现相位噪声测试。

可选地,所述夹具通过螺栓固定在所述振动测试台上。

可选地,所述印刷电路板通过螺栓固定在所述夹具上。

本发明第二方面提供一种晶体振荡器的测试方法,包括:

将至少一个被测晶体振荡器安装在如本发明第一方面中的测试装置中;

利用电源为所述被测晶体振荡器供电,使其处于工作状态;

控制振动测试台进行振动,并利用相位噪声测试仪,通过印刷电路板的信号转接头进行对被测晶体振荡器的相位噪声测试。

可选地,该方法还包括:

在所述相位噪声测试的过程中,打开被测晶体振荡器的外盖以调试所述被测晶体振荡器。

本发明的有益效果如下:

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