[发明专利]一种HIL自动化诊断测试方法、装置、设备及存储介质

说明书

本发明提供一种HIL自动化诊断测试方法、装置、设备及存储介质，包括：收到诊断测试指令后，根据待测系统的标识，在测试用例库中自动搜索并调取与待测系统匹配的测试用例，所述测试用例包括至少一个预设值；执行所述测试用例，对所述待测系统进行测试；获取所述待测系统的测定值，判定所述测定值与所述预设值是否一致；若一致，则测试结束；若不一致，则对所述待测系统进行调试，并在调试之后返回所述执行所述测试用例，对所述待测系统进行测试的步骤。通过本发明，能够实现对待测系统的自动化诊断测试，提高测试的效率、设备和人员的利用率，并能够避免出现测试时由于人为疏忽所造成的漏测或测试不全面的问题。

技术领域

本发明涉及诊断测试技术领域，尤其涉及一种HIL自动化诊断测试方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

当下许多控制单元的测试自动化水平偏低，对于目前业内流行的硬件在环测试系统(Hardware in the Loop，以下简称HIL)是非常有效的、能够最大限度贴近真实使用情况的测试方法。但是目前在进行控制器系统的全功能测试时，关于诊断部分的测试十分繁琐，同时也是十分重要的部分，只有充分、及时有效的识别出系统失效的部分，才能启动冗余设计的程序或者替代值等，从而避免引起不必要的损失。所以对控制单元的诊断功能进行全方位、有效的测试十分有必要。但是相比于整个控制单元的其它功能，诊断测试占用的测试时间非常多，所以如果能够进行自动化测试，将可以节省很多人力物力，大大提供工作效率，同时还可以减少测试时人为疏忽所造成的漏测或测试不全面的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提出一种HIL自动化诊断测试方法、装置、设备及存储介质，以解决现有技术中的诊断测试存在耗时长、效率低的问题。

基于上述目的，本发明实施例的第一个方面，提供了一种HIL自动化诊断测试方法，包括：

收到诊断测试指令后，根据待测系统的标识，在测试用例库中自动搜索并调取与待测系统匹配的测试用例，所述测试用例包括至少一个预设值；

执行所述测试用例，对所述待测系统进行测试；

获取所述待测系统的测定值，判定所述测定值与所述预设值是否一致；

若一致，则测试结束；

若不一致，则对所述待测系统进行调试，并在调试之后返回所述执行所述测试用例，对所述待测系统进行测试的步骤。

可选的，还包括：在执行所述测试用例，对所述待测系统进行测试之后，自动采集并存储测试数据。

其中，在所述测定值与所述预设值不一致时，对所述待测系统进行调试包括：分析原因，对所述待测系统的软件进行修改，并对修改后的所述待测系统进行循环测试，直至所述测定值与所述预设值一致，则测试结束。

所述HIL自动化诊断测试方法，应用于HIL自动化诊断测试系统，所述自动化诊断测试系统包括上位机、API(Application Programming Interface)接口和遵循MCD3(Measurement calibration diagnosis 3)协议的硬件设备，所述自动执行所述测试用例，包括：上位机通过API接口与遵循MCD3协议的硬件设备连接。

所述自动化诊断测试系统还包括HIL机柜，所述对所述待测系统进行测试包括：

所述HIL机柜与所述遵循MCD3协议的硬件设备连接，所述HIL机柜根据调取出的所述测试用例进行自动化测试。

可选的，所述遵循MCD3协议的硬件设备是CANape设备。

本发明实施例的第二个方面，提供了一种HIL自动化诊断测试装置，包括：