[发明专利]一种辐照剂量随温度响应的校准方法

权利要求书

1.一种辐照剂量随温度响应的校准方法，其特征在于，包括：

辐照源为Co-60辐照源板或电子直线加速器；

步骤1，将剂量计置于盛有预定液体的保温装置中，测量保温装置与辐照源的距离，对于保温装置中的预定液体在预设剂量下处于15℃～75℃的多个温度值中辐照相同时间后进行剂量测量，获得测量结果，建立辐照模型；

步骤2，对所述剂量计所处的剂量场进行模拟运算，剂量计为聚甲基丙烯酸甲酯剂量计或B3_3000薄膜剂量计；采用MCNP程序对所述辐照模型结构进行模拟运算，并获得辐照模拟结果；

通过MCNP程序模拟，根据建立的模型，在原有基础上加入保温箱的屏蔽作用，得到剂量场剂量率的理论值，模拟结果显示为计数，根据公式：

D＝Ka＝Φ·(μen/ρ)·E (1)

其中：Φ＝计数×10000/25，E表示入射γ射线的平均能量，由公式(1)可以换算成吸收剂量率；

步骤3，测量处在环境温度下，剂量计所处位置的剂量率，并与所述模拟结果进行验证对比，确定剂量场的剂量率；采用量程为0.4～5kGy的重铬酸银剂量计、量程为5～40kGy重铬酸钾(银)剂量计中的至少一种对剂量计所处位置进行剂量测量；

步骤4，调节所述保温装置的温度，分别使用15℃，25℃，35℃，45℃，55℃，65℃，75℃的水置放剂量计，每组温度放置3-5个剂量计，该温度范围涵盖了生产过程中剂量计可能达到的温度区间，辐照相同时间后进行剂量测量，获得测量结果；

步骤5，根据测量结果进行曲线拟合，获得拟合曲线和拟合公式；

步骤6，根据拟合公式对剂量计的读数进行校正，判断并输出当前产品辐照是否合格。

2.如权利要求1所述辐照剂量随温度响应的校准方法，其特征在于，所述步骤1包括：

在所述保温装置中设置多块相同尺寸的海绵块；

多块所述海绵块的相互连接形成海绵块串，所述海绵块串的前端与后端与所述保温箱的对应内侧壁挤压接触；

在所述海绵块串的前端设置凹槽，并将所述剂量计设置在所述凹槽中，使得所述剂量计与所述保温箱的前内侧壁接触；

在所述保温装置中放入预定量、预定温度的水。

3.如权利要求2所述辐照剂量随温度响应的校准方法，其特征在于，所述步骤4包括：

对处于所述保温装置中的所述预定液体在预设剂量下处于15℃～75℃的多个温度值中辐照相同时间后进行剂量测量，获得测量结果。

4.如权利要求3所述辐照剂量随温度响应的校准方法，其特征在于，所述步骤3还包括：

将所述剂量计从所述保温箱中取出2h～2.5h后测量吸收剂量值。