[发明专利]一种高灵敏度日冕仪杂光检测装置

权利要求书

1.一种高灵敏度日冕仪杂光检测装置，其特征在于，该装置包括：低亮度太阳模拟装置、带通滤光片和单光子计数成像探测器；所述的带通滤光片设置在待测日冕仪和单光子计数成像探测器中间，所述单光子计数成像探测器设置在待测日冕仪的焦面上；

所述的低亮度太阳模拟装置为离轴两反光学系统，低亮度太阳模拟装置发出32′全视场的模拟太阳光进入待测日冕仪，带通滤光片对待测波段进行波长选择，单光子计数成像探测器检测待测日冕仪的杂光亮度和太阳日面亮度；

所述的低亮度太阳模拟装置包括：反光罩、光源、毛玻璃，太阳32′视场光阑、平行光管次镜和平行光管主镜；所述的光源发出的光经过反光罩反光后，先进入毛玻璃进行匀化，然后经过太阳32′视场光阑，再进入到平行光管次镜，通过平行光管次镜反射的平行光被平行光管主镜接收，经过平行光管主镜反射的平行光经过出光口进入到待测日冕仪中；

日冕仪杂光亮度检测时，此时低亮度太阳模拟装置光轴与待测日冕仪光轴对准，单光子计数成像探测器接收到的光信号完全为待测日冕仪光学和机械结构产生的杂光；太阳日面亮度检测时，此时低亮度太阳模拟装置光轴相对于待测日冕仪光轴的转角为32′，太阳日面光线恰好完全被单光子计数成像探测器接收。

2.根据权利要求1所述的一种高灵敏度日冕仪杂光检测装置，其特征在于，所述的低亮度太阳模拟装置还包括第一挡光板、第二挡光板和第三挡光板，所述的第一挡光板设置在平行光管次镜的前端，第二挡光板设置在平行光管主镜的入光口，第三挡光板设置在平行光管主镜的出光口。

3.根据权利要求1所述的一种高灵敏度日冕仪杂光检测装置，其特征在于，所述的反光罩的材料为熔石英，反光罩的截面面型为椭球面，内表面镀有可见光波段反射膜。

4.根据权利要求1所述的一种高灵敏度日冕仪杂光检测装置，其特征在于，所述的光源为氘灯、氙灯、汞灯或紫外激光。

5.根据权利要求1所述的一种高灵敏度日冕仪杂光检测装置，其特征在于，所述的毛玻璃的材料为熔石英。

6.根据权利要求1所述的一种高灵敏度日冕仪杂光检测装置，其特征在于，所述的太阳32′视场光阑为铝制金属环。

7.根据权利要求1所述的一种高灵敏度日冕仪杂光检测装置，其特征在于，所述的平行光管次镜是以熔石英为材料的平面反射镜。

8.根据权利要求1所述的一种高灵敏度日冕仪杂光检测装置，其特征在于，所述的平行光管主镜是以熔石英为材料的抛物面反射镜。

9.根据权利要求1所述的一种高灵敏度日冕仪杂光检测装置，其特征在于，所述单光子计数成像探测器包括：单光子计数成像探测器采集单元和脉冲信号处理单元，单光子计数成像探测器采集单元负责微弱光信号的采集并进行光电转换；脉冲信号处理单元负责对光电脉冲信号放大并进行模数转换。