[发明专利]一种非接触式自焙电极压放量测量系统和方法在审
申请号: | 201911381152.X | 申请日: | 2019-12-27 |
公开(公告)号: | CN111076664A | 公开(公告)日: | 2020-04-28 |
发明(设计)人: | 陈秀实;李宏财;白永昕;刘子砚;徐磊;金宝 | 申请(专利权)人: | 大连华锐重工集团股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/90 |
代理公司: | 大连东方专利代理有限责任公司 21212 | 代理人: | 姜威威;李洪福 |
地址: | 116000 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 接触 电极 放量 测量 系统 方法 | ||
1.一种非接触式自焙电极压放量测量方法,其特征在于:包括以下步骤:
S1:设定采集条件下,对采集设备进行标定;
S2:在与自焙电极间隔一定的采集距离,且与自焙电极相对应不变的位置采集自焙电极压放前、后的图像,分别得到自焙电极压放前的图像Ⅰ和自焙电极压放后的图像Ⅱ;
S3:分别对自焙电极压放前的图像Ⅰ和自焙电极压放后的图像Ⅱ进行预处理及特征目标提取;
S4:计算电极压放前的图像Ⅰ的特征目标和自焙电极压放后的图像Ⅱ特征目标中心点位置变化的差值。
2.根据权利要求1所述的一种非接触式自焙电极压放量测量方法,其特征还在于:所述采集设定条件包括光线强度保持不变。
3.根据权利要求1所述的一种非接触式自焙电极压放量测量方法,其特征还在于:对采集设备进行标定的过程如下:选择尺寸已知的标定物,在采集设备的几何模型下,建立标定物图像坐标系与空间坐标系,获取图像像素尺寸与自焙电极实际尺寸的对应关系。
4.根据权利要求1所述的一种非接触式自焙电极压放量测量方法,其特征还在于:S3中的所述预处理过程如下:采用高斯线性平滑滤波算法对自焙电极压放前的图像Ⅰ和自焙电极压放后的图像Ⅱ进行噪声的平滑去噪处理,得到模糊图像。
5.根据权利要求4所述的一种非接触式自焙电极压放量测量方法,其特征还在于:S3中的所述特征目标提取的过程如下:
S3-1:将模糊图像按精度要求分割成若干子区域,采用基于像素的直方图阈值分割法将彩色图像的红色颜色分量投影到低维空间;
S3-2:采取拉普拉斯算子法对分割后的图像进行边缘轮廓提取。
6.一种非接触式自焙电极压放量测量系统,其特征在于:该系统包括图像采集单元、网络传输单元和图像处理单元;
所述图像采集单元与需要测量的自焙电极间隔一定的距离且保持相对应的位置不变;
所述图像采集单元对所述自焙电极的压放前、后的图像进行采集,分别得到自焙电极压放前的图像Ⅰ和自焙电极压放后的图像Ⅱ;
所述网络传输单元将自焙电极压放前的图像Ⅰ和自焙电极压放后的图像Ⅱ分别传输给所述图像处理单元;
所述图像处理单元分别对自焙电极压放前的图像Ⅰ和自焙电极压放后的图像Ⅱ进行预处理及目标特征提取,计算自焙电极压放前的图像Ⅰ和自焙电极压放后的图像Ⅱ中心点位置变化的差值。
7.根据权利要求1所述的一种非接触式自焙电极压放量测量系统,其特征还在于:所述图像采集单元至少包括摄像机和图像采集卡,所述图像采集卡将采集的光信号转换成数字信号。
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