[发明专利]一种皮革品种的鉴别方法和鉴别系统

权利要求书

1.一种皮革品种的鉴别方法，其特征在于，包括：

获取待鉴别皮革样品；

利用太赫兹时域光谱仪获取样品仓中放置有所述待鉴别皮革样品时得到的样品太赫兹时域光谱，以及获取样品仓中未放置所述待鉴别皮革样品时得到的参考太赫兹时域光谱；

根据所述样品太赫兹时域光谱和所述参考太赫兹时域光谱计算所述待鉴别皮革样品的介电常数，并将所述待鉴别皮革样品的介电常数与预先获取的不同品种皮革的介电常数进行比较，确定所述待鉴别皮革样品的皮革品种。

2.如权利要求1所述的鉴别方法，其特征在于，所述根据所述样品太赫兹时域光谱和所述参考太赫兹时域光谱计算所述待鉴别皮革样品的介电常数，包括：

对所述样品太赫兹时域光谱和所述参考太赫兹时域光谱进行傅里叶变换，得到样品太赫兹频域光谱以及参考太赫兹频域光谱；

根据所述样品太赫兹频域光谱以及所述参考太赫兹频域光谱，计算所述待鉴别皮革样品的介电常数。

3.如权利要求1所述的鉴别方法，其特征在于，所述将所述待鉴别皮革样品的介电常数与预先获取的不同品种皮革的介电常数进行比较，确定所述待鉴别皮革样品的皮革品种，包括：

将所述待鉴别皮革样品的介电常数的实部数值与预先获取的不同品种皮革的介电常数的实部数值进行比较，确定所述待鉴别皮革样品的皮革品种；

和/或，将所述待鉴别皮革样品的介电常数的虚部数值与预先获取的不同品种皮革的介电常数的虚部数值进行比较，确定所述待鉴别皮革样品的皮革品种；

和/或，将所述待鉴别皮革样品的介电常数的虚部拟合曲线的斜率与预先获取的不同品种皮革的介电常数的虚部拟合曲线的斜率进行比较，确定所述待鉴别皮革样品的皮革品种。

4.如权利要求1所述的鉴别方法，其特征在于，所述待鉴别皮革样品的获取，包括：

获取原始皮革样品；

对所述原始皮革样品在预设温度下进行预设时长的干燥处理，得到干燥的原始皮革样品；

对所述干燥的原始皮革样品进行裁剪处理与压缩处理，得到所述待鉴别皮革样品。

5.如权利要求1所述的鉴别方法，其特征在于，在所述根据所述样品太赫兹时域光谱和所述参考太赫兹时域光谱计算所述待鉴别皮革样品的介电常数之后，包括：

对所述待鉴别皮革样品的介电常数进行平滑处理，得到平滑处理后的待鉴别皮革样品的介电常数。

6.一种皮革品种的鉴别系统，其特征在于，包括：

样品获取装置，用于获取待鉴别皮革样品；

太赫兹时域光谱仪，用于获取样品仓中放置有所述待鉴别皮革样品时得到的样品太赫兹时域光谱，以及获取样品仓中未放置所述待鉴别皮革样品时得到的参考太赫兹时域光谱；

鉴别装置，用于根据所述样品太赫兹时域光谱和所述参考太赫兹时域光谱计算所述待鉴别皮革样品的介电常数，并将所述待鉴别皮革样品的介电常数与预先获取的不同品种皮革的介电常数进行比较，确定所述待鉴别皮革样品的皮革品种。

7.如权利要求6所述的鉴别系统，其特征在于，上述鉴别装置还具体用于：

对所述样品太赫兹时域光谱和所述参考太赫兹时域光谱进行傅里叶变换，得到样品太赫兹频域光谱以及参考太赫兹频域光谱；

根据所述样品太赫兹频域光谱以及所述参考太赫兹频域光谱，计算所述待鉴别皮革样品的介电常数。

8.如权利要求6所述的鉴别系统，其特征在于，上述鉴别装置还具体用于：

将所述待鉴别皮革样品的介电常数的实部数值与预先获取的不同品种皮革的介电常数的实部数值进行比较，确定所述待鉴别皮革样品的皮革品种；

和/或，将所述待鉴别皮革样品的介电常数的虚部数值与预先获取的不同品种皮革的介电常数的虚部数值进行比较，确定所述待鉴别皮革样品的皮革品种；

和/或，将所述待鉴别皮革样品的介电常数的虚部拟合曲线的斜率与预先获取的不同品种皮革的介电常数的虚部拟合曲线的斜率进行比较，确定所述待鉴别皮革样品的皮革品种。