[发明专利]一种FPGA的测试方法、设备以及存储介质

权利要求书

1.一种FPGA的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

向FPGA发送启动若干个功能单元的指令；

获取所述FPGA的功耗和温度；

根据所述功耗的大小和所述温度的高低判断所述功能单元的数量是否满足测试要求；

响应于所述功能单元的数量不满足测试要求，向所述FPGA发送调整所述功能单元的启动数量的指令，并返回获取所述FPGA的功耗和温度的步骤，直到所述功能单元的数量满足所述测试要求；

根据所述功耗的大小和所述温度的高低判断所述功能单元的数量是否满足测试要求，进一步包括：

根据所述FPGA的规格确定所述FPGA的功耗和温度分别对应的第一阈值和第二阈值；

利用所述第一阈值和所述第二阈值确定所述测试要求；

响应于所述功能单元的数量不满足测试要求，向所述FPGA发送调整所述功能单元的启动数量的指令，进一步包括：

响应于所述功耗大于所述第一阈值且所述温度大于所述第二阈值，向所述FPGA发送减少所述功能单元的启动数量的指令；

响应于所述功耗小于所述第一阈值且所述温度小于所述第二阈值，向所述FPGA发送增加所述功能单元的启动数量的指令。

2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，还包括：

向所述FPGA烧录程序文件，以使所述FPGA具有预设数量的功能单元。

3.如权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述功能单元包括不同类型的功能单元，所述不同类型的功能单元启动后占用的所述FPGA的资源大小不同。

4.如权利要求3所述的测试方法，其特征在于，向所述FPGA发送调整所述功能单元的启动数量的指令，进一步包括：

向所述FPGA发送调整不同类型的所述功能单元各自的启动数量的指令。

5.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，还包括：

响应于所述功能单元的数量满足测试要求，在预设时间段内不断获取所述FPGA的功耗和温度。

6.一种计算机设备，包括：

至少一个处理器；以及

存储器，所述存储器存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时执行如权利要求1-5任意一项所述的方法的步骤。

7.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时执行如权利要求1-5任意一项所述的方法的步骤。