[发明专利]一种高时间分辨率地基中高层大气风场测量干涉仪系统有效

专利信息
申请号: 201911386116.2 申请日: 2019-12-29
公开(公告)号: CN111077338B 公开(公告)日: 2021-04-20
发明(设计)人: 冯玉涛;李勇;畅晨光;傅頔;孙剑;李娟;闫鹏 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01P5/00 分类号: G01P5/00;G01P5/26
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 郑丽红
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 时间分辨率 地基 高层 大气 测量 干涉仪 系统
【权利要求书】:

1.一种高时间分辨率地基中高层大气风场测量干涉仪系统,其特征在于:包括第一空间扫描机构、第二空间扫描机构、第一望远镜(3)、第二望远镜(4)、天顶望远镜(5)、视场耦合组件(6)、定标模块(7)、干涉仪组件(8)、分色成像组件(9)和探测器(10);

所述第一空间扫描机构位于第一望远镜(3)的入射光路上,具有同时分别指向东西、同时分别指向南北两种工作模式,所述第一空间扫描机构上设置有第一反射镜(1),将不同方向的光束反射至第一望远镜(3);

所述第二空间扫描机构位于第二望远镜(4)的入射光路上,具有同时分别指向东西、同时分别指向南北两种工作模式,所述第二空间扫描机构上设置有第二反射镜(2),将不同方向的光束反射至第二望远镜(4);

所述视场耦合组件(6)位于第一望远镜(3)、第二望远镜(4)、天顶望远镜(5)的出射光路上,将第一望远镜(3)、第二望远镜(4)、天顶望远镜(5)的视场光束耦合到一起,并透射到干涉仪组件(8)中;所述视场耦合组件(6)包括第一视场耦合镜(61)、第二视场耦合镜(62)和天顶光阑;

所述定标模块(7)位于视场耦合组件(6)和干涉仪组件(8)之间,包括依次设置的定标光源(71)、第一准直镜(72)和半透半反镜(73),定标光源(71)发出的光束通过第一准直镜(72)和半透半反镜(73)后反射到干涉仪组件(8)中,用于提供与观测谱线波长相近的标准谱线;

所述干涉仪组件(8)对入射光谱辐射进行调制产生干涉图,利用中阶梯光栅多级衍射实现双波段干涉图同步生成;

所述分色成像组件(9)包括沿光路依次设置的光楔分色镜(91)和马赛克滤光片(92),将干涉仪组件(8)产生的干涉图成像到探测器(10)上,分色成像组件(9)使两个波段产生的干涉图分开并列于探测器(10)的左右两侧,探测器图像获得六个独立的视线风速值。

2.根据权利要求1所述的高时间分辨率地基中高层大气风场测量干涉仪系统,其特征在于:所述光楔分色镜(91)和马赛克滤光片(92)之间的光路上设置有第一成像镜(11)。

3.根据权利要求2所述的高时间分辨率地基中高层大气风场测量干涉仪系统,其特征在于:所述干涉仪组件(8)、分色成像组件(9)之间的光路上设置有第二成像镜(12)。

4.根据权利要求1或2或3所述的高时间分辨率地基中高层大气风场测量干涉仪系统,其特征在于:所述定标光源(71)为Kr和Ne惰性气体原子放电灯。

5.根据权利要求4所述的高时间分辨率地基中高层大气风场测量干涉仪系统,其特征在于:所述视场耦合组件(6)和半透半反镜(73)之间的光路上设置有第二准直镜(13)。

6.根据权利要求5所述的高时间分辨率地基中高层大气风场测量干涉仪系统,其特征在于:所述半透半反镜(73)与干涉仪组件(8)之间的光路上设置有中继成像镜(14)。

7.根据权利要求6所述的高时间分辨率地基中高层大气风场测量干涉仪系统,其特征在于:所述半透半反镜(73)的透射反射比为90:10。

8.根据权利要求7所述的高时间分辨率地基中高层大气风场测量干涉仪系统,其特征在于:所述探测器(10)为CCD或CMOS。

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