[发明专利]一种高时间分辨率地基中高层大气风场测量干涉仪系统有效
申请号: | 201911386116.2 | 申请日: | 2019-12-29 |
公开(公告)号: | CN111077338B | 公开(公告)日: | 2021-04-20 |
发明(设计)人: | 冯玉涛;李勇;畅晨光;傅頔;孙剑;李娟;闫鹏 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01P5/00 | 分类号: | G01P5/00;G01P5/26 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 郑丽红 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 时间分辨率 地基 高层 大气 测量 干涉仪 系统 | ||
1.一种高时间分辨率地基中高层大气风场测量干涉仪系统,其特征在于:包括第一空间扫描机构、第二空间扫描机构、第一望远镜(3)、第二望远镜(4)、天顶望远镜(5)、视场耦合组件(6)、定标模块(7)、干涉仪组件(8)、分色成像组件(9)和探测器(10);
所述第一空间扫描机构位于第一望远镜(3)的入射光路上,具有同时分别指向东西、同时分别指向南北两种工作模式,所述第一空间扫描机构上设置有第一反射镜(1),将不同方向的光束反射至第一望远镜(3);
所述第二空间扫描机构位于第二望远镜(4)的入射光路上,具有同时分别指向东西、同时分别指向南北两种工作模式,所述第二空间扫描机构上设置有第二反射镜(2),将不同方向的光束反射至第二望远镜(4);
所述视场耦合组件(6)位于第一望远镜(3)、第二望远镜(4)、天顶望远镜(5)的出射光路上,将第一望远镜(3)、第二望远镜(4)、天顶望远镜(5)的视场光束耦合到一起,并透射到干涉仪组件(8)中;所述视场耦合组件(6)包括第一视场耦合镜(61)、第二视场耦合镜(62)和天顶光阑;
所述定标模块(7)位于视场耦合组件(6)和干涉仪组件(8)之间,包括依次设置的定标光源(71)、第一准直镜(72)和半透半反镜(73),定标光源(71)发出的光束通过第一准直镜(72)和半透半反镜(73)后反射到干涉仪组件(8)中,用于提供与观测谱线波长相近的标准谱线;
所述干涉仪组件(8)对入射光谱辐射进行调制产生干涉图,利用中阶梯光栅多级衍射实现双波段干涉图同步生成;
所述分色成像组件(9)包括沿光路依次设置的光楔分色镜(91)和马赛克滤光片(92),将干涉仪组件(8)产生的干涉图成像到探测器(10)上,分色成像组件(9)使两个波段产生的干涉图分开并列于探测器(10)的左右两侧,探测器图像获得六个独立的视线风速值。
2.根据权利要求1所述的高时间分辨率地基中高层大气风场测量干涉仪系统,其特征在于:所述光楔分色镜(91)和马赛克滤光片(92)之间的光路上设置有第一成像镜(11)。
3.根据权利要求2所述的高时间分辨率地基中高层大气风场测量干涉仪系统,其特征在于:所述干涉仪组件(8)、分色成像组件(9)之间的光路上设置有第二成像镜(12)。
4.根据权利要求1或2或3所述的高时间分辨率地基中高层大气风场测量干涉仪系统,其特征在于:所述定标光源(71)为Kr和Ne惰性气体原子放电灯。
5.根据权利要求4所述的高时间分辨率地基中高层大气风场测量干涉仪系统,其特征在于:所述视场耦合组件(6)和半透半反镜(73)之间的光路上设置有第二准直镜(13)。
6.根据权利要求5所述的高时间分辨率地基中高层大气风场测量干涉仪系统,其特征在于:所述半透半反镜(73)与干涉仪组件(8)之间的光路上设置有中继成像镜(14)。
7.根据权利要求6所述的高时间分辨率地基中高层大气风场测量干涉仪系统,其特征在于:所述半透半反镜(73)的透射反射比为90:10。
8.根据权利要求7所述的高时间分辨率地基中高层大气风场测量干涉仪系统,其特征在于:所述探测器(10)为CCD或CMOS。
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