[发明专利]一种测试毫米波雷达多径条件下性能的装置及方法

说明书

本发明公开了一种测试毫米波雷达多径条件下性能的装置及方法，包括腔体，所述腔体内部中空且被测对象设置于所述腔体内部；延迟模拟单元，设置于所述腔体内部，用于接收所述被测对象发出的电磁波，并将所述电磁波增加延迟后反射至所述被测对象；磁力搅拌单元，设置于所述腔体内部，用于不断搅拌干扰所述电磁波；还公布了使用方法，包括在腔体中安装好被测对象、延迟模拟单元和磁力搅拌单元；通过检测校准单元进行装置的日常校准；所述磁力搅拌单元不断搅拌，所述延迟模拟单元接收所述被测对象发出的电磁波，并将所述电磁波增加延迟后反射至所述被测对象，减少了测试周期、降低了成本的同时也解决了传统方法测试时占用场地的问题。

技术领域

本发明涉及雷达测试技术领域，尤其涉及一种测试毫米波雷达多径条件下性能的装置及方法。

背景技术

毫米波雷达是指工作在毫米波波段探测的雷达，通常毫米波是指30GHz至300GHz频域的波，由于毫米波的波长介于微波和厘米波之间，因此毫米波雷达具有微波雷达和光电雷达的优点，具有很强的研究价值。现有的毫米波雷达测试主要在全电波暗室测试基本功能，全电波暗室是个外壳为金属的屏蔽室，内部附着特殊涂层的海绵(即吸波材料)，用来吸收电磁波，腔内有测量天线和雷达模拟器，用来接收和发送电磁波给被测试的雷达，从而测量出雷达的测量速度和距离。

全电波暗室用吸波材料将墙壁反射的电磁波吸收，没有外界条件干扰，而实际雷达是在外界环境中使用，会受到地面、建筑、人、森林、大气等等各种复杂环境的反射，还有其他雷达、手机等发出的电磁波干扰，需要验证多径条件下的雷达性能。故现有的测试方法需在全电波暗室中测试完成后再在外场重新验证多径场景的功能，造成了测试周期、成本、场地等因素的居高不下。

发明内容

本部分的目的在于概述本发明的实施例的一些方面以及简要介绍一些较佳实施例。在本部分以及本申请的说明书摘要和发明名称中可能会做些简化或省略以避免使本部分、说明书摘要和发明名称的目的模糊，而这种简化或省略不能用于限制本发明的范围。

鉴于上述现有毫米波雷达基本功能测试技术存在的问题，提出了本发明。

因此，本发明解决的技术问题是：解决现有测试毫米波雷达基本功能时，在全电波暗室测试完成后还需要在外场重新验证多径场景下的功能，造成的测试周期、成本、场地等因素居高不下的问题。

为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：一种测试毫米波雷达多径条件下性能的装置，包括：腔体，所述腔体内部中空且被测对象设置于所述腔体内部；延迟模拟单元，设置于所述腔体内部，用于接收所述被测对象发出的电磁波，并将所述电磁波增加延迟后反射至所述被测对象；磁力搅拌单元，设置于所述腔体内部，用于不断搅拌干扰所述电磁波。

作为本发明所述的测试毫米波雷达多径条件下性能的装置的一种优选方案，其中：所述腔体设置为混响室，四周为金属壳体，且内壁面光滑，呈全封闭状态。

作为本发明所述的测试毫米波雷达多径条件下性能的装置的一种优选方案，其中：所述延迟模拟单元设置为雷达模拟器，包括接收天线和发射天线，所述接收天线接收所述被测对象发出的电磁波，所述发射天线将所述电磁波反射至所述被测对象。

作为本发明所述的测试毫米波雷达多径条件下性能的装置的一种优选方案，其中：所述接收天线和所述发射天线包括，根据λ＝c/f得出，f越大，λ越短，所述接收天线和所述发射天线尺寸越小，其中，λ为波长，c为光速，f为频率。

作为本发明所述的测试毫米波雷达多径条件下性能的装置的一种优选方案，其中：所述接收天线和所述发射天线还包括，当f为79GHz时，λ为毫米波，所述接收天线和所述发射天线尺寸为λ/n，其中，n为整数倍。

作为本发明所述的测试毫米波雷达多径条件下性能的装置的一种优选方案，其中：所述磁力搅拌单元为两块挡板，两块所述挡板在所述腔体中无规则运转，且不干扰所述延迟模拟单元的运行。