[发明专利]一种空间极紫外光度计

说明书

本发明涉及一种空间极紫外光度计，涉及极紫外光学器件技术领域。本发明解决极紫外波段无带高抑制比通滤光片的技术难题。本发明的空间极紫外光度计是由薄膜吸收滤光片、极紫外窄带多层膜反射镜组成的光学系统、反射镜背部重金属遮挡板和光电二极管探测器组成。本发明将极紫外窄带多层膜反射镜组成的光学系统与薄膜吸收滤光片、反射镜背部重金属遮挡板和高灵敏度光电二极管探测器组合成极紫外光度计，通过地面的高精度定标，可实现空间目标极紫外辐射的高精度定量化探测。本发明的空间极紫外光度计具有结构简单、体积小、重量轻、可靠性高的特点，不仅可以探测空间目标在特定极紫外波段的辐射亮度，也可广泛应用于该波段空间载荷的在轨定标。

技术领域

本发明涉及极紫外光学器件技术领域，具体涉及一种空间极紫外光度计，是利用极紫外窄带多层膜反射镜光学系统滤掉高能辐射和极紫外带外辐射，利用薄膜吸收滤光片滤掉长波段光辐射，探测特定波段的极紫外辐射。

背景技术

在极紫外光学领域，尤其是在对空间目标开展极紫外监测时，需要对目标源的极紫外辐射的绝对强度做定量化测量。为此，需要设计一种适合空间应用的小型、高可靠性极紫外光度计。在空间环境中，由于没有大气、臭氧层的存在，来自目标的各种波段光辐射和来自宇宙背景不同能量的粒子辐射均可以照射到测量仪器中，而目前没有可用的带通、高抑制比的极紫外透射滤光片，无法对特定波段的极紫外辐射亮度进行准确测量，不能对大量具有研究价值的极紫外目标进行探测。

发明内容

本发明要解决现有技术中的技术问题，提供一种空间极紫外光度计。本发明的空间极紫外光度计，是利用极紫外窄带多层膜反射镜光学系统滤掉X射线辐射和工作波段外极紫外辐射，利用薄膜吸收滤光片滤掉长波方向的远紫外、紫外、可见和红外部分辐射，以较高的带外抑制能力，实现对特定极紫外波长辐射的高响应探测。

为了解决上述技术问题，本发明的技术方案具体如下：

本发明提供一种空间极紫外光度计，包括：

入光口安装的薄膜吸收滤光片，所述薄膜吸收滤光片可以滤掉带滤除远紫外、紫外、可见及红外的长波辐射；

极紫外窄带多层膜反射镜组成的光学系统，所述光学系统可以滤除X射线辐射和工作波段以外的极紫外辐射，实现特定极紫外波段的带通滤光；

反射镜背部重金属遮挡板，所述反射镜背部重金属遮挡板避免遮高能粒子穿透并被探测器接受；

光电二极管探测器，所述光电二极管探测器接收经上述光学系统滤除后的目标极紫外波段的辐射；

由上述部件组成的空间极紫外光度计，经过地面辐射定标，可用于空间极紫外目标辐射的高精度定量化探测。

在上述技术方案中，所述薄膜吸收滤光片是在滤光片上镀上Al、Ti、C薄膜中的一种或多种得到的。

在上述技术方案中，所述光学系统是由两片EUV窄带多层膜反射镜组成。

在上述技术方案中，所述反射镜背部重金属遮挡板采用高原子序数的材料铜、铅、或钨，厚度为3～5mm。

在上述技术方案中，所述光电二极管探测器表面镀制Al、Ti、或C薄膜。

本发明的空间极紫外光度计，经过薄膜吸收滤光片、极紫外窄带多层膜反射镜、反射镜背部重金属遮挡板后，只有特定波长范围的极紫外辐射到达光电二级管探测器，经过光电转化获得具有特定比例关系的光电流，由信号采集系统采集该信号。通过标定极紫外光学系统反射率、薄膜吸收滤光片的透过率和光电二极管探测器的光电转换效率，可以标定此极紫外光度计的辐射响应，进而可在轨实现对目标的绝对辐射亮度高精度定量测量。

本发明具有以下的有益效果：