[发明专利]一种笔帽密封性检测装置及方法

说明书

本发明揭示了一种笔帽密封性检测装置及方法，所述装置包括承料座、连接座和与连接座相连的真空检测机构，承料座上承载有待检测的笔帽，笔帽内设置有密封用的密封圈；连接座在动力源作用下与承料座密封相接或断开连接，连接座与承料座相连接后形成一密封检测通道；真空检测机构通过检测密封检测通道的密封性，以检测密封圈的密封性。本发明保证了笔帽内密封圈的密封性能。

技术领域

本发明涉及一种自动装配技术，尤其是涉及一种笔帽密封性检测装置及方法。

背景技术

通常在中性笔的笔帽内侧顶端，装有起密封作用的密封圈，用于防止笔芯漏墨和墨水挥发。

但是，在中性笔笔帽的实际装配过程中，由于各种原因，会有密封圈漏装，斜装、竖装等密封不严密的现象发生，从而使密封圈起不到应有的密封效果。如对于直径尺寸和厚度尺寸接近的密封圈，其竖装和正常装配一般无法区分；另外，现有对于密封圈的斜装、漏装也无法测出。

因此，针对上述笔帽内密封圈装配存在的问题，有必要提出一种密封圈密封性检测装置，以解决现有无法准确检测笔帽内密封圈漏装、竖装和斜装的问题。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种笔帽密封性检测装置及方法。

为实现上述目的，本发明提出如下技术方案：一种笔帽密封性检测装置，包括承料座、连接座和与连接座相连的真空检测机构，所述承料座上承载有待检测的笔帽，所述笔帽内设置有密封用的密封圈；所述连接座在动力源作用下与承料座密封相接或断开连接，所述连接座与承料座相连接后形成一密封检测通道，所述密封检测通道一端与密封圈相连，另一端与真空检测机构相连；所述真空检测机构通过检测所述密封检测通道的密封性，以检测所述密封圈的密封性。

优选地，所述承料座内设置有第一密封通道，所述连接座内设置有第二密封通道，所述第一密封通道的一端与所述密封圈相连，另一端与所述第二密封通道的一端相连通或相断开，所述第二密封通道的另一端与真空检测机构相连，所述第一密封通道与第二密封通道相连通后形成所述密封检测通道。

优选地，所述第一密封通道轴向贯穿承料座，所述第二密封通道轴向贯穿连接座。

优选地，所述装置还包括移位盘，所述移位盘上设置多个所述承料座，多个所述承料座在移位盘的转动下依次与连接座相接或断开连接。

优选地，所述动力源包括与所述连接座相连的抬升座，所述连接座在抬升座的驱动下向靠近或远离承料座的方向移动。

优选地，所述真空检测机构包括真空机和真空检测表，所述真空机通过连接管与连接座相连接，所述连接管与所述密封检测通道相连；所述真空检测表与所述连接管相连接。

优选地，所述真空检测机构与连接座之间还设置一用于控制两者之间相通断的阀门。

优选地，所述连接座与承料座相接触的端面上设置一密封层。

本发明还揭示了一种笔帽密封圈密封性检测方法，包括：

S1，所述连接座在动力源作用下与承料座密封相接，所述连接座与承料座相连接后形成一所述密封检测通道；

S2，打开真空检测机构检测密封检测通道的密封性，以检测到所述密封圈的密封性；

S3，检测结束后，所述连接座在动力源作用下与承料座断开连接且复位。

优选地，所述装置还包括移位盘，所述移位盘上设置多个承料座，多个所述承料座上的笔帽在移位盘的转动下，依次进行所述S1～S3的过程。

本发明的有益效果是：本发明通过模拟笔帽的使用状态，采用真空负压检测原理，对密封圈的密封性进行检测，检测精度高，且可避免密封圈因漏装、竖装和斜装而使其密封性能得不到保证的问题。

附图说明