[发明专利]一种基于多应力加速寿命模型的试验时间计算方法

说明书

本发明提供一种基于多应力加速寿命模型的试验时间计算方法，解决了多应力条件下(振动、温度、湿度、电等多种应力参数)电子产品贮存期验证的问题。步骤一、分析贮存期指标，得到运输时间，存放时间，加电待机时间；步骤二、分解贮存剖面，得到运输阶段的振动量级、存放阶段的温度湿度值、加电待机阶段的电压值；步骤三、分析试验应力，得到运输阶段的振动应力、存放阶段的最高温度应力和最高湿度应力、加电待机阶段的最高电应力；步骤四、计算运输阶段的加速因子、存放阶段的加速因子和加电待机阶段的加速因子；步骤五、根据加速因子计算试验时间。

技术领域

本发明属于航天可靠性技术领域，涉及一种基于多应力加速寿命模型的试验时间计算方法。

背景技术

贮存寿命是武器装备重要的战技指标之一，对于贮存期的验证一般采用加速试验的方法，这就要求给出寿命模型，试验时间。以往在这一方面往往采用单一应力或者双应力加速寿命模型，比如Arrhenius模型，采用温度应力进行加速试验；逆幂率模型，采用电应力进行加速试验。这些模型在进行加速试验时没有考虑其它应力情况，在实际存放过程中的遇到的故障情况与试验时的情况不一致，导致试验结果不准确、不全面等现象。

在以往的贮存寿命验证问题上，往往将存放阶段作为主要加速试验计算的阶段，其它运输、加电等阶段往往较少考虑或者在考虑时仅作为辅助试验，没有通过模型进行精确计算。

发明内容

本发明提供一种基于多应力加速寿命模型的试验时间计算方法，解决了多应力条件下(振动、温度、湿度、电等多种应力参数)电子产品贮存期验证的问题，能够覆盖电子产品在寿命周期内的运输阶段、存放阶段、加电待机等情况加速试验验证。

一种基于多应力加速寿命模型的试验时间计算方法，其特征在于，包括：

步骤一、分析贮存期指标，得到运输时间，存放时间，加电待机时间；

步骤二、分解贮存剖面，得到运输阶段的振动量级、存放阶段的温度湿度值、加电待机阶段的电压值；

步骤三、分析试验应力，得到运输阶段的振动应力、存放阶段的最高温度应力和最高湿度应力、加电待机阶段的最高电应力；

步骤四、计算运输阶段的加速因子、存放阶段的加速因子和加电待机阶段的加速因子；

步骤五、根据加速因子计算试验时间。

本发明的有益效果：

与目前的试验时间计算方法相比，本发明提出的多应力加速寿命模型，包括了振动、温度、湿度、电等四种应力参数，能够覆盖电子产品在寿命周期内的运输阶段、存放阶段、加电待机等情况加速试验验证，为电子产品的定型提供了较为准确的结果。

附图说明

图1为本发明试验剖面图；

图2为本发明实施例的试验剖面图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

本实施例中的一种基于多应力加速寿命模型的试验时间计算方法，具体包括：

步骤一、分析贮存期指标，得到运输时间t₁，存放时间t₂，加电待机时间t₃；

在本实施例中，电子产品的所述贮存期指标属于试验的概念范畴，根据所述贮存期指标可以分析出电子产品研制交付以后，需要经历的运输时间t₁，存放时间t₂，加电待机时间t₃，和总的试验时间单位为小时，贮存可靠度γ，无量纲。

步骤二、分解贮存剖面，得到运输阶段的振动量级、存放阶段的温度湿度值、加电待机阶段的电压值；