[发明专利]基于FCN+FC-WXGBoost的工业产品表面缺陷检测方法有效

专利信息
申请号: 201911391419.3 申请日: 2019-12-30
公开(公告)号: CN111161244B 公开(公告)日: 2021-12-21
发明(设计)人: 许玉格;郭子兴;戴诗陆;吴宗泽 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06K9/62
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 冯炳辉
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 fcn fc wxgboost 工业产品 表面 缺陷 检测 方法
【权利要求书】:

1.基于FCN+FC-WXGBoost的工业产品表面缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)对选取的工业产品表面图片及其标注进行尺寸标准化和归一化操作,得到训练图片集;

2)对训练图片集进行在线随机数据增强,包括上下左右随机翻转,并将所有图片分为多个批次;

3)根据步骤2)分好的批次,将一个批次的图片输入全卷积网络FCN进行训练,得到输出结果的同时进行反向传播,更新FCN网络参数,并输出网络下采样得到的特征图;

将图片和标注送入FCN进行训练,输入图片为H*W的RGB图片,其标注信息修改为[0,1]二值矩阵anno',其中背景为0,前景为1,尺寸为H*W,H和W为图片的高和宽;

全卷积网络FCN的结构分为两个部分,前半部分为卷积层和池化层组合的下采样部分,中间部分为由两个卷积层组成的卷积部分,后半部分为反卷积层组成的上采样部分,表示为C={C1,C2,C3,C4,C5}和N以及D={D1,D2,D3},其中C表示下采样部分,Ci表示多个卷积层连接一个池化层,i=1,2,3,4,5,共有五层;N表示卷积部分;D表示上采样部分,其中Di表示一个反卷积层,i=1,2,3,共有三层;整个网络每一层输出的特征图分别表示为(m1,m2,...,m9);全卷积网络FCN采用了一种跳级结构,以得到更精准的预测结果,具体操作为:将m6输入D1,反卷积进行2倍上采样,得到m7;再将m4剪裁为m7的尺寸,二者叠加后再输入D2,同样进行2倍上采样,得到输出m8;将m3剪裁为m8的尺寸,二者叠加之后输入D3进行8倍上采样,得到和输入图片相同尺寸的输出m9

全卷积网络FCN的输出m9为H*W的一维图片,其像素值取值为[0,1],表示原图中该位置像素为缺陷的概率,选取阈值μ将预测概率二值化为0或1,得到输出的二值化一维图片p;则该网络的损失函数为每个像素的交叉熵损失的叠加,即:

其中,CEi,j(pi,j,yi,j)表示单个像素点(i,j)的交叉熵损失,pi,j表示输出p中第(i,j)个像素的预测值,yi,j表示对应像素的真实值,总的损失loss(p,y)为所有像素点损失的加和;

4)将步骤3)得到的每一批次图片上的输出结果进行DBSCAN聚类,并将同一类的像素点使用最小外接矩形标出感兴趣区域,将所有感兴趣区域和步骤3)中提取的特征图输入特征提取算法RoIAlign,提取感兴趣区域特征;

5)搭建全连接网络FC,将步骤4)中提取出的感兴趣区域特征输入全连接网络FC进行训练,通过四步交替训练法,更新全卷积网络FCN和全连接网络FC的权重;其中,使用四步交替法训练全卷积网络FCN和全连接网络FC,其具体步骤为:

5.1)首先训练C,N和D组成的全卷积网络FCN,计算全卷积网络FCN的损失进行反传,得到感兴趣区域,其中C,N和D分别表示网络的下采样部分,卷积部分和上采样部分;

5.2)固定D部分参数,利用上一步得到的感兴趣区域训练C和FC组成的网络,计算全连接网络的损失进行反传,得到分类结果,其中FC表示全连接网络部分;

5.3)固定C和FC,计算全卷积网络的损失进行反传,微调N,D网络参数;

5.4)固定C,N和D,计算全连接网络的损失进行反传,微调FC网络参数;

6)重复步骤3)至步骤5),直至训练图片集内的所有批次都已经参与训练,即完成一个轮次的训练;

7)完成一个轮次后,重复步骤2)至步骤6)进行新一轮的训练,直至达到设定的迭代轮次为止;

8)对极限梯度提升算法XGBoost进行加权改进,得到加权极限梯度提升算法WXGBoost,使用WXGBoost算法进行建模并在建模过程中使用克隆选择算法调参,将全连接网络FC的输出层替换为WXGBoost模型,得到FC-WXGBoost网络,再与全卷积网络FCN组合,得到FCN+FC-WXGBoost网络模型;

9)将待检测的工业产品表面图片输入步骤8)中得到的FCN+FC-WXGBoost网络模型,即可输出待检测图片的缺陷位置和类别信息。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华南理工大学,未经华南理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911391419.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top