[发明专利]一种图像处理方法及电子设备有效
申请号: | 201911391991.X | 申请日: | 2019-12-30 |
公开(公告)号: | CN111062893B | 公开(公告)日: | 2022-02-08 |
发明(设计)人: | 袁康;刘浩 | 申请(专利权)人: | 合肥联宝信息技术有限公司 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00;G06T5/40;G06T7/00 |
代理公司: | 北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734 | 代理人: | 张洋 |
地址: | 230000 安徽省合肥市经*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 图像 处理 方法 电子设备 | ||
本发明公开了一种图像处理方法。所述图像处理方法包括:对待测图像进行光学检测,获取图像数据;基于所述图像数据获取所述待测图像中待检测区域的特征分布直方图;基于所述特征分布直方图对所述图像数据进行分类;基于所述分类对所述图像数据进行去噪处理。本发明提供的图像处理方法基于特征分布直方图对所述图像数据进行去噪处理,从而实现了对图像中干扰噪点的去除,提高了光学检测的准确度。
技术领域
本发明属于图像处理领域,尤其涉及一种图像处理方法及电子设备。
背景技术
目前,光学检测已经成为各种生产制造中检验产品外观的重要检测手段。然而,由于待检测产品自身材质、结构存在的不平整等产品问题,以及检测照明度不够等检测环境问题,使得光学检测的监测效果受到一定的限制。例如,在对笔记本电脑进行光学检测时,由于笔记本本身材料材质凹凸不平,光照角度变化,摆放位置发生变化等问题,会在拍摄的图片中留下很多不规则的噪点,严重干扰待测内容的提取。
发明内容
本发明提供一种图像处理方法。所述图像处理方法包括:对待测图像进行光学检测,获取图像数据;基于所述图像数据获取所述待测图像中待检测区域的特征分布直方图;基于所述特征分布直方图对所述图像数据进行分类;基于所述分类对所述图像数据进行去噪处理。
可选地,在所述步骤基于所述图像数据获取所述待测图像中待检测区域的特征分布直方图之后,所述图像处理方法包括:依据预设检测规则,设定所述待测图像中的各待测目标物的定义。
可选地,所述步骤基于所述特征分布直方图对所述图像数据进行分类包括:根据所述特征分布直方图与所述待测目标物的定义,对所述图像数据进行分类,获取背景层数据及目标物层数据。
可选地,所述步骤基于所述分类对所述图像数据进行去噪处理包括:遍历所述图像数据中所述待检测区域的数据,删除其中介于所述背景层数据与所述目标物层数据之间的干扰数据;基于删除干扰数据后的图像数据,完成图像去噪处理。
可选地,所述步骤基于所述图像数据获取所述待测图像中待检测区域的特征分布直方图包括:基于所述图像数据分析所述待检测区域的灰度数据和梯度数据,并基于所述灰度数据和梯度数据获取所述特征分布直方图。
可选地,所述预设检测规则为:与各检测场景对应的预设有效检测目标物。
可选地,所述步骤根据所述特征分布直方图与所述待测目标物的定义,对所述图像数据进行分类,获取背景层数据及目标物层数据进一步包括:根据特征分布直方图中的灰度变化及梯度变化,以及所述待测目标物的连通域面积和周长,对所述图像数据进行分类,获取所述背景层数据以及所述目标物层数据。
可选地,所述背景层数据包括所述图像数据中的背景像素特征信息,而所述目标物层数据包括所述目标物像素特征信息。
可选地,所述步骤遍历所述图像数据中所述待检测区域的数据,删除其中介于所述背景层数据与所述目标物层数据之间的干扰数据包括:遍历所述图像数据中所述待检测区域的数据,删除所述待检测区域的数据中介于所述背景像素特征信息以及所述目标物像素特征信息之间的干扰数据。
本发明另一方面提供一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:至少一处理器,用于实现各程序;至少一存储器,用于存储至少一个程序;所述至少一个程序被所述至少一处理器执行时,所述电子设备实现以上所述图像处理方法。
本发明提供的图像处理方法,通过获取待测图像中的特征分布直方图,并基于所述特征分布直方图对所述图像数据进行分类,进而基于所述分类对所述图像数据进行去噪处理,从而实现了对图像中干扰噪点的去除,提高了光学检测的准确度。
附图说明
图1为待处理的光学检测图像的示意图。
图2为本发明实施例提供的图像处理方法的流程图。
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