[发明专利]CT图像中环形伪影的校正方法、装置及计算机存储介质

权利要求书

1.一种CT图像中环形伪影的校正方法，其特征在于，所述校正方法包括：

步骤S0：建立加性噪声模型：I(s,θ)＝I_r(s,θ)+b(s)+ε(s,θ)，其中，I(s,θ)表示原始正弦图在扫描角度θ、探测器位置s处的实际探测值，I_r(s,θ)表示理想正弦图在扫描角度θ、探测器位置s处的理想探测值，b(s)表示在探测器位置s处对应的所述实际探测值的偏置值，ε(s,θ)表示所述原始正弦图在扫描角度θ、探测器位置s处对应的随机误差；

步骤S1：对原始探测数据进行预处理，所述预处理包括：从所述原始探测数据中选取N个扫描角度θ对应的实际探测值形成原始正弦图；对所述原始正弦图在探测器位置s方向进行滤波处理；通过所述滤波处理获取所述原始正弦图的噪声；对所述噪声在扫描角度θ方向进行平均，获得所有扫描角度θ方向上所有偏置值b(s)的平均偏置值获取噪声在探测器位置s处的标准差std[ε(s)]；

步骤S2：根据预处理后的原始正弦图中的数据标记出探测器的坏道，若公式成立，则将探测器位置s对应的通道标记为坏道，其中，表示平均偏置值的绝对值，d表示校正系数，sqrt(N)表示N的均方根；

步骤S3：采用平均处理获取所述坏道处对应的替代探测值；

步骤S4：采用所述步骤S3中平均处理后的正弦图数据进行CT图像重建。

2.根据权利要求1所述的CT图像中环形伪影的校正方法，其特征在于，在所述步骤S1中，选取的扫描角度θ的数量不低于50个。

3.根据权利要求1所述的CT图像中环形伪影的校正方法，其特征在于，在所述步骤S1中，所述实际探测值为探测器测量所得的经过衰减后的X射线的强度、衰减系数或者经过斜坡滤波后的衰减系数。

4.根据权利要求3所述的CT图像中环形伪影的校正方法，其特征在于，在所述步骤S1中，所述滤波处理为加权滤波处理。

5.根据权利要求4所述的CT图像中环形伪影的校正方法，其特征在于，在所述步骤S1中，所述加权滤波处理为均值滤波处理，均值滤波处理采用的公式如下：

其中，n为自然数。

6.根据权利要求1所述的CT图像中环形伪影的校正方法，其特征在于，在所述步骤S1中，所述噪声通过将原始正弦图中的实际探测值减去经过所述滤波后的理想正弦图中的理想探测值获得。

7.根据权利要求6所述的CT图像中环形伪影的校正方法，其特征在于，在所述步骤S1中，对所述噪声在扫描角度θ方向进行平均具体可以通过以下公式进行：

8.根据权利要求7所述的CT图像中环形伪影的校正方法，其特征在于，在所述步骤S1中，所述噪声在探测器位置s处的标准差通过以下公式获得：

9.根据权利要求1所述的CT图像中环形伪影的校正方法，其特征在于，所述校正系数d介于1.6-2.6、1.8-2.0或者2.0-2.6之间。

10.根据权利要求1所述的CT图像中环形伪影的校正方法，其特征在于，所述校正系数d为1.96。

11.根据权利要求1所述的CT图像中环形伪影的校正方法，其特征在于，所述步骤S3中平均处理的具体步骤为：采用所述坏道两侧同一直线方向临近的2n个探测器的实际探测值的平均值作为所述坏道的替代探测值，n为自然数。

12.根据权利要求1所述的CT图像中环形伪影的校正方法，其特征在于，当CT探测器的排列为二维排布时，所述步骤S3中平均处理的具体步骤为：采用与所述坏道邻接的四个探测器的实际探测值的平均值作为所述坏道的替代探测值。