[发明专利]一种新型光电器件参数检测设备

说明书

本发明公开了一种新型光电器件参数检测设备，包括基座，基座上转动安装有转盘，转盘上设有若干用于放置待测光电器件的放置槽，转盘的一侧设有检测箱，检测箱朝向转盘的一侧设有开口，检测箱中安装有对光电器件进行参数采集和检测的参数检测组件，待检测的光电器件依次放置在转盘上的放置槽上，随转盘的转动作用将待测光电器件输送至检测箱中，将检测箱中的参数检测组件进行各项数据采集和检测后，转动离开检测箱，稳定连续的进行光电器件的参数检测工作，极大的提升相关参数检测工作的效率；通过光电器件转动组件使放置在放置槽中的光电组件进行转动，便于在检测箱中接受参数检测组件的参数采集和检测，提高检测精准性。

技术领域

本发明涉及光电器件领域，尤其是一种新型光电器件参数检测设备。

背景技术

光电器件，包括发光二极管、半导体激光器等器件，在工作中需要固定成阵列形式，组成整齐的排列来实现照明等功能。在光电器件的加工生产时，对其相关参数的检测是必不可少的环节之一。

公告号为CN201107374Y的申请公开了一种光电器件参数监测设备，其将待测光电器件置于器件架上，并通过移动的数据采集设备来对各个参数进行采集和检测，提高了光电器件的检测效率。然而，在该装置的使用过程中，需要频繁的开关壳体来批量更换器件架上的光电器元件，导致光电器元件检测工作连续性差，工作效率存在提升的空间。因此，需要一种新型的光电器件参数检测设备。

发明内容

本发明的目的在于提供一种新型光电器件参数检测设备，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种新型光电器件参数检测设备，包括基座，所述基座上转动安装有转盘，转盘上设有若干用于放置待测光电器件的放置槽，所述转盘的一侧设有检测箱，检测箱朝向转盘的一侧设有开口，检测箱中安装有对光电器件进行参数采集和检测的参数检测组件。

在进一步的实施例中，所述检测箱通过安装柱固定安装在转盘一侧的基座上。

在进一步的实施例中，所述转盘的圆心处固定连接竖直设置的主转轴，主转轴的下端转动安装在基座中，主转轴上设有一号从动齿轮，一号从动齿轮的一侧设有与其相互啮合的一号主动齿轮，一号主动齿轮安装在一号电机输出端的转轴上。

在进一步的实施例中，所述转盘上的放置槽不少于三个。

在进一步的实施例中，所述放置槽中还设有光电器件固定组件。

在进一步的实施例中，所述放置槽中设有光电器件转动组件，所述光电器件转动组件包括转动座、二号从动齿轮、副转轴和二号电机，所述放置槽中均转动安装有转动座，转动座的下端圆心处固定连接连接轴，连接轴的下端设有位于转盘中的二号从动齿轮，转盘的截面圆心处转动安装有与二号从动齿轮相互啮合的二号主动齿轮，二号主动齿轮通过副转轴连接转盘上端的二号电机的输出端。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：待检测的光电器件依次放置在转盘上的放置槽上，随转盘的转动作用将待测光电器件输送至检测箱中，将检测箱中的参数检测组件进行各项数据采集和检测后，转动离开检测箱，依靠人工或者机械手进行连续的待测光电器件的放入和取出，稳定连续的进行光电器件的参数检测工作，便于大批量光电器件的连续检测，极大的提升相关参数检测工作的效率；通过光电器件转动组件使放置在放置槽中的光电组件进行转动，便于在检测箱中接受参数检测组件的参数采集和检测，提高检测精准性。

附图说明

图1为光电器件参数检测设备的结构示意图。

图2为光电器件参数检测设备的内部结构示意图。

图3为光电器件参数检测设备中光电器件转动组件的结构示意图。