[发明专利]一种用于隔振器平动直接阻抗的测试装置及测试方法

说明书

本发明公开了一种用于隔振器平动直接阻抗的测试装置及测试方法，涉及隔振技术领域，包括台架、测力装置、单向加速度传感器、三向加速度传感器和激振装置，测力装置包括下端测力装置和上端测力装置，下端测力装置设于台架上，其上表面与被测隔振器的底面连接，上端测力装置一端与被测隔振器连接，另一端与激振装置连接；单向加速度传感器设于下端测力装置的上表面；三向加速度传感器固定于被测隔振器上；该装置不仅可获取三向平动独立隔振器的平动直接阻抗，还提高了阻抗测试的上限频率和简化了测试条件、流程，成本低且效率高。

技术领域

本发明涉及隔振技术领域，具体涉及一种用于隔振器平动直接阻抗的测试装置及测试方法。

背景技术

隔振器的平动直接阻抗(激励方向和振动响应方向同向)是描述隔振器动态特性的重要参数，获取该参数是计算隔振装置传递特性的重要一环。其中，三向平动独立(激励方向的振动响应远大于与该方向正交的其它两个方向的响应)隔振器的平动直接阻抗参数主要是采用钳制的方式在阻抗平台上通过正置和反置的方法进行获取，其需要满足机械阻抗测试时输出端的振动堵塞条件，但该振动堵塞条件的要求是阻抗平台的质量足够大，而在密度一定时，质量大会引起频率下降，其会使得测试的上限频率受限，进而导致无法测量出高频率隔振器的平动直接阻抗参数，且存在阻抗平台造价高、测试条件不易实现等问题，对获取三向平动独立隔振器的平动直接阻抗参数是不利的。

发明内容

针对现有技术中存在的缺陷，本发明的目的在于提供一种用于隔振器平动直接阻抗的测试装置及测试方法，提高了阻抗测试的上限频率且成本低。

为达到以上目的，本发明采取的技术方案是：

一种用于隔振器平动直接阻抗的测试装置，包括：台架；

测力装置，所述测力装置包括下端测力装置和上端测力装置，所述下端测力装置设于所述台架上，所述下端测力装置的上表面与被测隔振器的底面连接；所述上端测力装置位于所述下端测力装置的上方，并设于所述被测隔振器的上表面；

单向加速度传感器，所述单向加速度传感器设于所述下端测力装置的上表面；

三向加速度传感器，所述三向加速度传感器设于所述被测隔振器上；

激振装置，所述激振装置与所述上端测力装置连接。

在上述技术方案的基础上，所述下端测力装置处于自由状态时，其一阶弹性模态频率大于阻抗测试的上限频率。

在上述技术方案的基础上，所述三向加速度传感器的其中一个加速度测量方向与其获取平动直接阻抗的方向一致，另两个加速度测量方向与该加速度测量方向为正交关系。

在上述技术方案的基础上，所述激振装置的安装频率小于阻抗测试下限频率的1/3。

在上述技术方案的基础上，所述单向加速度传感器的加速度测量方向为平动直接阻抗的测量方向。

在上述技术方案的基础上，所述下端测力装置为三向测力板。

在上述技术方案的基础上，所述上端测力装置为单向测力板。

本发明还提供一种采用用于隔振器平动直接阻抗的测试装置的隔振器平动直接阻抗的测试方法，包括以下步骤：搭建两个结构动态线性不相关的第一台架和第二台架，并在第一台架上安装第一测试装置的其他组件，在第二台架上安装第二测试装置的其他组件；

将第一被测隔振器安装于所述第一测试装置上；

获取所述第一测试装置的轴向平动直接阻抗上的测力装置的动态力；

获取以所述动态力为参考的加速度复数值，并对所述加速度复数值进行积分得到速度复数值；