[发明专利]超声相控阵图像自适应缺陷自动测量算法

说明书

本发明涉及超声测量技术领域，尤其涉及一种超声相控阵图像自适应缺陷自动测量算法。本发明采用如下技术方案：在C图像中搜索最大幅度值点，并导出对应的B图像，然后分别对C图像和B图像的缺陷区域进行搜索，根据搜索结果确定使用相对灵敏度法或绝对灵敏度法，并最终得出缺陷区域。本发明的优点在于：根据缺陷区域的获取规则，采用计算机程序可执行的方法对缺陷区域进行测量计算，只需人工使用测量线粗略地卡好缺陷的大致位置，并设置相应的参数，即可实现自动测量计算缺陷区域，可按照搜索结果区别使用相对灵敏度法或绝对灵敏度法，并可识别真伪波峰，提高超声相控阵评图的速度，且降低对操作人员的技术要求。

技术领域

本发明涉及超声测量技术领域，尤其涉及一种超声相控阵图像自适应缺陷自动测量算法。

背景技术

超声相控阵技术是无损检测技术领域的前沿技术，近几年发展迅速，已被广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。相控阵技术采用若干压电晶片组成阵列换能器，通过电子系统控制阵列中的各个晶片按照一定的延时法则发射和接受超声波，从而实现声束的扫描、偏转与聚焦等功能。

通过采集到的相控阵图像，探伤工需要对图像的缺陷进行识别和测量，测量的内容包括缺陷的高度及对应的波幅，缺陷的长度和自身高度。缺陷回波幅度的获取，需要找到不同位置B图像不同A扫描线缺陷最高回波幅度，该点所在位置及缺陷的高度。现有相控阵图像缺陷识别方式均为手动识别，操作繁琐，需要在多个视图之间来回切换，缩放图像进行测量，准确性依赖于操作人员的经验和技能水平。

发明内容

本发明的目的在于提供一种超声相控阵图像自适应缺陷自动测量算法，具体在于提供一种可利用计算机程序对相控阵图像的缺陷部分进行测量的算法。

为达到上述目的，本发明采用如下技术方案：一种超声相控阵图像自适应缺陷自动测量算法，包括如下步骤：

S01.设置测量参数，包括：缺陷降幅(D)、分辨力(T)和端点波峰(P)。

S02.在C图像缺陷范围内，搜索最高幅度点的坐标(X_max，Y_max)，另记为(X₁，Y₁)幅度为H_max，另记为H₁，并将坐标点(X₁，Y₁)记为分类C₁。

S03.以分类C₁为中心向四周扩散，标记所有沿途幅度递减的点，其幅度值满足Drop(H₁，D)H≤H₁则记为C₁，幅度值满足H≤Drop(H₁，D)记为分类C_1ex。

S04.并在缺陷范围内未分类的点中搜索幅度值H满足Drop(H₁，D)H≤H₁的图像点，记为待分类C_？。

S05.在待分类C_？中搜索下一个波峰点的坐标(X₂，Y₂)，幅度为H₂，将点(X₂，Y₂)记为分类C₂。

S06.以C₂为中心向四周扩散，标记所有沿途幅度递减的点，其幅度值满足Drop(H₂，D))H≤H₂则记为C₂，幅度值满足H≤Drop(H₂，D)记为分类C_2ex。

S07.在缺陷范围内未分类的点中搜索幅度值H满足Drop(H₂，D)H≤H₂的图像点，记为待分类C_？。