[发明专利]一种直连金属电阻的提取方法有效

专利信息
申请号: 201911397186.8 申请日: 2019-12-30
公开(公告)号: CN111079360B 公开(公告)日: 2023-09-22
发明(设计)人: 李相启;唐文红;陆涛涛;刘伟平 申请(专利权)人: 北京华大九天科技股份有限公司
主分类号: G06F30/3308 分类号: G06F30/3308;G06F30/398
代理公司: 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 代理人: 王金双
地址: 100102 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 金属 电阻 提取 方法
【权利要求书】:

1.一种直连金属电阻的提取方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)识别直连区域并获取所述直连区域相连金属层的方块电阻率信息;

2)根据所述方块电阻率信息建立所述直连区域的电阻网络;

3)将所述直连区域边上的剖分点插入所述直连区域相连的金属层并标记对应的标号;

4)剖分非直连区域建立所述非直连区域的电阻网络;

5)根据端口位置信息以及等势特征将所述端口连接点的标号标记一致;

6)求解所述电阻网络,计算所述端口之间的电阻。

2.根据权利要求1所述的直连金属电阻的提取方法,其特征在于,所述步骤1)进一步包括,对直连金属组中相邻层做交,生成直连区域。

3.根据权利要求1所述的直连金属电阻的提取方法,其特征在于,所述步骤2)进一步包括,对每一层的所述直连区域进行三角剖分,根据所述直连区域连接金属层的方块电阻率信息计算等效方块电阻率,建立所述直连区域的电阻网络。

4.根据权利要求3所述的直连金属电阻的提取方法,其特征在于,进一步包括,并联所述方块电阻率得到所述等效方块电阻率;

所述等效方块电阻率s=s1*s2/(s1+s2),其中,s2为Mn层的方块电阻率,s1为Mn-1层的方块电阻率。

5.根据权利要求3所述的直连金属电阻的提取方法,其特征在于,还包括,记录所述直连区域边上剖分点的物理坐标和标号。

6.根据权利要求1所述的直连金属电阻的提取方法,其特征在于,所述步骤3)进一步包括,在所述金属层上插入所述直连区域边上的剖分点并去除所述直连区域。

7.根据权利要求1所述的直连金属电阻的提取方法,其特征在于,所述步骤4)进一步包括,所述剖分点对每一层的所述非直连区域进行三角剖分,建立所述非直连区域的电阻网络。

8.根据权利要求1所述的直连金属电阻的提取方法,其特征在于,所述步骤5)进一步包括,络合所有层的所述电阻网络生成联通电阻网络,根据基尔霍夫定律建立联通电阻网络矩阵。

9.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序运行时执行权利要求1至8任一项所述的直连金属电阻的提取方法步骤。

10.一种直连金属电阻的提取装置,其特征在于,包括存储器和处理器,所述存储器上储存有在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器运行所述计算机程序时执行权利要求1至8任一项所述的直连金属电阻的提取方法步骤。

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