[发明专利]一种室分坏点位置确定方法、装置和存储介质

权利要求书

1.一种室分坏点位置确定方法，其特征在于，所述方法包括：

判断预先生成的第一电平变化率是否大于电平变化容忍率；

若判断出所述第一电平变化率大于电平变化容忍率，则将自身与高电平邻区之间连接线的方向确定为室分坏点方向；

根据预先生成的第一电平子集和预先生成的第二电平子集，生成第二电平变化率；

根据所述第二电平变化率，生成偏向高电平邻区之外的其他邻区的偏移角度；

根据所述室分坏点方向和所述偏向高电平邻区之外的其他邻区的偏移角度，确定出室分坏点位置，所述室分坏点位置包括在所述室分坏点方向上向高电平邻区之外的其他邻区偏移所述偏移角度；

在所述判断预先生成的第一电平变化率是否大于电平变化容忍率之前，还包括：

根据接收到的指定数量的邻区的初始电平值，生成第一覆盖区域矩阵，所述第一覆盖区域矩阵包括所有邻区的第一电平集合，所述第一电平集合包括高电平邻区对应的第一最高电平值和高电平邻区之外的其他邻区对应的第一电平子集；

根据接收到的指定数量的邻区的当前电平值，生成第二覆盖区域矩阵，所述第二覆盖区域矩阵包括所有邻区的第二电平集合，所述第二电平集合包括高电平邻区对应的第二最高电平值和高电平邻区之外的其他邻区对应的第二电平子集；

根据所述第一最高电平值和所述第二最高电平值，计算出第一电平变化率；

所述据所述第一最高电平值和所述第二最高电平值，计算出第一电平变化率，包括：

分别统计出第一最高电平值对应的预先设置的多个电平类别下的电平值数量和第二最高电平值对应的预先设置的多个电平类别下的电平值数量；

将第一最高电平值对应的预先设置的多个电平类别下的电平值数量和第二最高电平值对应的预先设置的多个电平类别下的电平值数量相加，得到最高电平值总数；

按照以下公式，根据最高电平值总数、第一最高电平值、第二最高电平值、第一最高电平值对应的预先设置的多个电平类别下的电平值数量和第二最高电平值对应的预先设置的多个电平类别下的电平值数量，计算出第一电平变化率；

其中，t为第二最高电平值，t’为第一最高电平值，T_i为第二最高电平值对应的预先设置的多个电平类别下的电平值数量，为第一最高电平值对应的预先设置的多个电平类别下的电平值数量，T为最高电平值总数，Q1为第一电平变化率。

2.根据权利要求1所述的室分坏点位置确定方法，其特征在于，在所述根据接收到的指定数量的邻区的初始电平值，生成第一覆盖区域矩阵之前，还包括：

接收用户设备按照预设时间间隔发送的自身的初始电平值和指定数量的邻区的初始电平值；

按照预设时间窗口，接收用户设备按照预设时间间隔发送的自身的当前电平值和指定数量的邻区的当前电平值。

3.根据权利要求1所述的室分坏点位置确定方法，其特征在于，在所述判断第一电平变化率是否大于电平变化容忍率之前，还包括：

判断计算出的电平劣化率是否大于预设的劣化容忍率；

若判断出所述电平劣化率大于预设的劣化容忍率，则继续执行判断第一电平变化率是否大于电平变化容忍率的步骤。

4.根据权利要求3所述的室分坏点位置确定方法，其特征在于，在所述判断计算出的电平劣化率是否大于预设的劣化容忍率之前，还包括：

按照预先设置的多个电平类别，分别统计出每个电平类别下的自身的初始电平值的数量和自身的当前电平值的数量；

根据自身的当前电平值、自身的当前电平值的数量、自身的初始电平值和自身的初始电平值的数量，计算出电平劣化率。

5.根据权利要求4所述的室分坏点位置确定方法，其特征在于，在所述按照预先设置的多个电平类别，分别统计出每个电平类别下的初始电平值的数量和当前电平值的数量之前，还包括：

根据统计出的初始用户设备数量和当前用户设备数量，计算出用户变化率；

判断用户变化率是否小于用户变化容忍率；

若判断出用户变化率小于用户变化容忍率，则继续执行按照预先设置的多个电平类别，分别统计出每个电平类别下的初始电平值的数量和当前电平值的数量的步骤。