[发明专利]一种纳米晶高熵氧化物薄膜的制备方法及应用有效
申请号: | 201911399285.X | 申请日: | 2019-12-30 |
公开(公告)号: | CN111118464B | 公开(公告)日: | 2021-01-12 |
发明(设计)人: | 李晓华;孙森;杨朝明;汪渊 | 申请(专利权)人: | 四川大学 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/08 |
代理公司: | 成都顶峰专利事务所(普通合伙) 51224 | 代理人: | 王霞 |
地址: | 610000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 纳米 晶高熵 氧化物 薄膜 制备 方法 应用 | ||
1.一种纳米晶高熵氧化物薄膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤S1:先称取纯度高于99.90%的金属氧化物粉末混合物装入模具,再冷压成型,制成直径60mm,厚度5mm的圆柱体压坯;
步骤S2:将所述圆柱体压坯高温煅烧后缓慢冷却至室温,得到混合氧化物靶;
步骤S3:将单晶硅(100)基底材料依次利用酒精、丙酮、去离子水超声清洗5min;
步骤S4:在真空条件下多靶磁控溅射所述混合氧化物靶和所述单晶硅(100)基底材料,真空度为2.0×10-4Pa;
步骤S5:多靶磁控溅射完成后,真空室温度冷却至常温后将溅射完成的薄膜取出,即得到纳米晶高熵氧化物薄膜;
步骤S1金属氧化物粉末混合物由以下质量百分数的物质组成:14%Al2O3,22%Cr2O3,23%Fe2O3,21%NiO,20%MnO。
2.根据权利要求1所述的纳米晶高熵氧化物薄膜的制备方法,其特征在于,所述步骤S4具体包括如下步骤:
步骤S4-1:预溅射氧化物靶20min,溅射功率50W,溅射时通入惰性气体,惰性气体的气压为0.5~1Pa;
步骤S4-2:结束预溅射,对预溅射得到的产物进行再次溅射,溅射时通入0.6Pa惰性气体,溅射功率为60W,溅射时间为2h。
3.根据权利要求1所述的纳米晶高熵氧化物薄膜的制备方法,其特征在于,步骤S2中高温煅烧过程的升温速率为1~10℃/min,煅烧温度为1200~1500℃,恒温煅烧时间为20~30小时。
4.根据权利要求1-3任一项所述的制备方法制备得到的纳米晶高熵氧化物薄膜。
5.根据权利要求4所述的纳米晶高熵氧化物薄膜,其特征在于,该纳米晶高熵氧化物薄膜的厚度为900nm。
6.根据权利要求4所述的纳米晶高熵氧化物薄膜,其特征在于,该纳米晶高熵氧化物薄膜中有以下原子百分数的元素:58.6%O,8.7%Al,7.2%Cr,7.5%Mn,8.9%Fe以及9.1%Ni。
7.一种如权利要求4-6任一项所述的纳米晶高熵氧化物薄膜在微电子、光催化或医学领域中的应用。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于四川大学,未经四川大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911399285.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种开关电源及其控制电路和控制方法
- 下一篇:一种气体自动集成检测系统
- 同类专利
- 专利分类