[发明专利]一种电路板的测试方法及测试系统

权利要求书

1.一种电路板的测试方法，其特征在于，所述测试方法通过能够采集电路板的顶面图像及底面图像的图像采集设备实现；所述电路板的测试方法包括：

步骤S101，通过所述图像采集设备采集取样电路板的顶面采样图像；

步骤S102，从所述顶面采样图像中获取多个集成电路部分的多个集成电路区域图像，获取所述多个集成电路区域图像所对应的二维坐标值以及分别获取多个集成电路的标识编号信息；

步骤S103，从所述顶面采样图像中去除所述多个集成电路区域图像，获取顶面框架图像；

步骤S104，通过卷积神经网络训练所述顶面框架图像获取一个顶面框架模型；通过卷积神经网络分别训练所述多个集成电路区域图像获取多个集成电路图像模型；

步骤S105，根据所述多个集成电路的标识编号信息对应所述多个集成电路图像模型建立集成电路模型库；

步骤S106，所述图像采集设备采集当前电路板的当前顶面图像；

步骤S107，通过所述顶面框架模型识别所述当前顶面图像，获取顶面框架识别结果；

步骤S108，根据所述多个集成电路区域图像所对应的二维坐标值，驱动所述图像采集设备获取对应的各当前集成电路区域图像；根据预存的当前多个集成电路的识别编号从所述集成电路模型库中获取对应的当前集成电路模型集合；

步骤S109，通过所述集成电路模型库，多所述当前集成电路模型集合中的每个当前集成电路逐一识别，获取顶面集成电路识别结果；

步骤S110，根据所述顶面框架识别结果及所述顶面集成电路识别结果获取电路板的测试结果信息。

2.如权利要求1所述的测试方法，其中，所述图像采集设备具有一个采集摄像头；

所述步骤S101中包括：

根据设定步进移动方向及设定移动步进距离，驱动所述采集摄像头在所述采集取样电路板区域内移动，获取多幅且能够相互衔接的采样图像；

根据所述设定步进移动方向及设定移动步进距离将所述多幅采样图像拼接为顶面采样图像。

3.如权利要求1所述的测试方法，其中，所述顶面采样图像中还包括电路板字符标识图像；

所述步骤S101中还包括，从所述顶面采样图像中获取电路板字符标识图像。

4.如权利要求1所述的测试方法，其中，所述步骤S110中还包括：

判断所述测试结果信息是否为设定结果，若是，则生成检测通过信息；若否，则判断所述顶面框架识别结果是否为设定结果，若是，则生成电路板部分合格信息，若否，则生成电路板部分异常信息。

5.如权利要求4所述的测试方法，其中，所述步骤S110后还包括：

步骤S111，通过显示装置显示所述检测通过信息、电路板部分合格信息及电路板部分异常信息。

6.如权利要求1所述的测试方法，其中，所述步骤S104中还包括：

通过卷积神经网络分别训练待更新多个集成电路区域图像获取多个待更新集成电路图像模型；

所述步骤S105中还包括：

获取待更新的多个集成电路的标识编号信息对应待更新多个集成电路图像模型更新所述集成电路模型库。