[发明专利]DDR测试系统和DDR测试方法

权利要求书

1.一种DDR测试系统，其特征在于，包括测试终端、处理模块、控制模块和上料模块；

所述控制模块，用于控制所述上料模块将待测试的DDR芯片放置在所述测试终端上，并在完成上料操作后，向所述处理模块发送启动测试指令；

所述处理模块，用于根据所述启动测试指令完成对所述测试终端的上电操作；

所述测试终端，用于对待测试的所述DDR芯片进行功能测试，并根据所述功能测试的结果向所述处理模块发送反馈信号；

所述处理模块，还用于根据所述反馈信号判定DDR芯片的测试结果，并将所述测试结果进行协议转换后发送给所述控制模块；

所述控制模块，还用于根据所述测试结果控制所述上料模块对所述DDR芯片进行分类。

2.根据权利要求1所述的DDR测试系统，其特征在于，所述处理模块与所述控制模块通过RS232通讯线连接。

3.根据权利要求1所述的DDR测试系统，其特征在于，所述处理模块包括信号传输设备、PCI板卡、电平转换模块和选通模块：

信号传输设备，用于与所述控制模块进行交互，根据所述控制模块发送的启动测试指令生成上电指令，并将所述上电指令发送给所述选通模块；

所述选通模块，用于根据所述上电指令为所述测试终端供电，以使所述测试终端执行功能测试操作；

所述电平转换模块，与所述测试终端连接，用于对所述反馈信号进行电平转换，将电平转换得到的转换信号通过所述PCI板卡发送给所述信号传输设备；

所述信号传输设备，还用于根据所述转换信号进行判断，将判断得到的所述DDR芯片的测试结果发送给所述控制模块。

4.根据权利要求3所述的DDR测试系统，其特征在于，所述电平转换模块为TTL转RS232电平转换模块；

所述TTL转RS232电平转换模块通过TX和RX信号线与所述测试终端的Uart2接口连接。

5.根据权利要求3所述的DDR测试系统，其特征在于，所述PCI板卡为PCI-1620A板卡；

所述信号传输设备上设置有PCI卡槽；

所述PCI-1620A板卡通过所述PCI卡槽与所述信号传输设备连接。

6.根据权利要求3至5任意一项所述的DDR测试系统，其特征在于，所述选通模块包括继电器；

所述继电器，分别与所述信号传输设备、所述测试终端和外部电源相连接，用于在接收到所述信号传输终端的上电指令后，导通所述外部电源和所述测试终端之间的连接，以通过所述外部电源为所述测试终端供电。

7.根据权利要求1所述的DDR测试系统，其特征在于，所述测试主板包括多个测试区；

每个测试区上设有主控芯片，以及与所述主控芯片电连接的若干功能按键、芯片插座、指示灯和信号传输端口；

若干所述功能按键用于测试DDR芯片的各项功能；

所述芯片插座用于安装DDR芯片，所述指示灯用于指示测试结果，所述信号传输端口用于连接所述信号传输设备。

8.一种如权利要求1至7中任一项所述的DDR测试系统的DDR测试方法，其特征在于，包括：

控制模块在检测到开始测试操作时，控制上料模块完成待测试的DDR芯片的上料操作，向处理模块发送启动测试指令；

所述处理模块根据所述启动测试指令控制继电器导通外部电源与测试终端的连接，完成对测试终端的上电操作；

所述测试终端启动对待检测的DDR芯片的功能测试，根据功能测试的结果向所述处理模块发送反馈信号；

所述处理模块对所述反馈信号进行解析，得到所述DDR芯片的测试结果，并将所述测试结果进行协议转换后发送给所述控制模块；

所述控制模块控制所述上料模块根据所述测试结果对所述DDR芯片进行分类。