[发明专利]一种获取板书信息的方法、装置、介质和电子设备有效

专利信息
申请号: 201911412137.7 申请日: 2019-12-31
公开(公告)号: CN111160285B 公开(公告)日: 2023-07-04
发明(设计)人: 黄劲;许巧龄;黄钢;王珂晟;侯正科;吴哲宇 申请(专利权)人: 安博思华智能科技有限责任公司
主分类号: G06F3/0488 分类号: G06F3/0488;G06F40/126
代理公司: 北京睿驰通程知识产权代理事务所(普通合伙) 11604 代理人: 唐华;张文平
地址: 100040 北京市石景山*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 获取 板书 信息 方法 装置 介质 电子设备
【权利要求书】:

1.一种获取板书信息的方法,其特征在于,包括:

在书写板的书写区域内,从第一行区域后获取第二行区域中的第二轨迹信息;

分析所述第二轨迹信息,获取评估间隔长度阈值;

根据所述评估间隔长度阈值依次分析所述第二轨迹信息,获取多个单元区域信息;

依次从每个所述单元区域信息中提取单元轨迹信息;

调用轨迹分析模型分别对每个所述单元轨迹信息进行字符分析,依次获取对应的字符编码信息;

其中,所述分析所述第二轨迹信息,获取评估间隔长度阈值,包括:

分析所述第二轨迹信息,获取评估高度;

基于预设高宽比和所述评估高度获取评估宽度;

基于预设间隔比和所述评估宽度获取评估间隔长度阈值。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述轨迹信息,包括:轨迹点位置信息和对应起始点标记和结束点标记;

所述分析所述第二轨迹信息,获取评估高度,包括:

分析所述第二轨迹信息,获取评估纵坐标上沿值和评估纵坐标下沿值;

计算所述评估纵坐标上沿值和所述评估纵坐标下沿值的差,获取所述评估高度。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述分析所述第二轨迹信息,获取评估纵坐标上沿值,包括:

根据预设上层轨迹阈值范围获取所述第二轨迹信息中的上层轨迹信息;

分析所述上层轨迹信息,获取具有起始点标记的多个上层轨迹点位置信息;

统计所述上层轨迹点位置信息的纵坐标获取上层正态分布图;其中,所述上层正态分布图的横坐标表示所述上层轨迹点位置信息的纵坐标的区间,所述上层正态分布图的纵坐标表示所述上层轨迹点位置信息的纵坐标在区间内的数量;

获取所述上层正态分布图中纵坐标的峰值对应的上层峰值横坐标;

计算所述上层峰值横坐标对应的区间的平均值,获取评估纵坐标上沿值。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述分析所述第二轨迹信息,获取评估纵坐标下沿值,包括:

根据预设下层轨迹阈值范围获取所述第二轨迹信息中的下层轨迹信息;

分析所述下层轨迹信息,获取具有结束点标记的多个下层轨迹点位置信息;

统计所述下层轨迹点位置信息的纵坐标获取下层正态分布图;其中,所述下层正态分布图的横坐标表示所述下层轨迹点位置信息的纵坐标的区间,所述下层正态分布图的纵坐标表示所述下层轨迹点位置信息的纵坐标在区间内的数量;

获取所述下层正态分布图中纵坐标的峰值对应的下层峰值横坐标;

计算所述下层峰值横坐标对应的区间的平均值,获取评估纵坐标下沿值。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述评估间隔长度阈值依次分析所述第二轨迹信息,获取多个单元区域信息,包括:

自左至右依次分析所述第二轨迹信息是否存在单元间隔;其中,所述单元间隔的横坐标长度值大于或等于评估间隔长度阈值;

当存在第一个单元间隔时,则确定第一个单元区域信息的左横坐标为第二行区域的左横坐标,且第一个单元区域信息的右横坐标为第一个单元间隔的左横坐标;

当存在多个单元间隔时,则自第二个单元间隔始确定所述单元区域信息的左横坐标为前一个单元间隔的左横坐标,且所述单元区域信息的右横坐标为所述单元间隔的左横坐标。

6.根据权利要求1-5任一项所述的方法,其特征在于,在所述依次获取对应的字符编码信息后,还包括:

将所述字符编码信息发送给显示终端。

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