[发明专利]一种碳碳双键异构体的双键位置鉴定方法

权利要求书

1.一种碳碳双键异构体的双键位置鉴定方法，其特征在于，包括如下步骤：

1）分别将含不饱和双键的底物和含羰基的反应试剂溶于溶剂中，搅拌均匀得底物溶液和反应试剂溶液；

2）将所得底物溶液和反应试剂溶液混合，然后在可见光的激发下进行光照反应，得到反应产物；

3）将步骤2）所得反应产物注入质谱中，经离子源离子化后，进一步经CID碎裂得到特征碎片离子；

4）对特征碎片离子进行分析，反向推导出不饱和双键的位置；

所述含不饱和双键的底物为含有不饱和双键的脂质化合物；

所述含羰基的反应试剂为蒽醌、菲醌或二者对应的衍生物。

2.根据权利要求1所述的双键位置鉴定方法，其特征在于，所述溶剂为水、甲醇、乙醇、乙腈、氯仿中的一种或几种。

3.根据权利要求1所述的双键位置鉴定方法，其特征在于，所述可见光波长为380~430nm。

4.根据权利要求1所述的位置鉴定方法，其特征在于，所述含羰基的反应试剂与含不饱和双键底物的摩尔比为0.01~100。

5.根据权利要求1所述的双键位置鉴定方法，其特征在于，所述光照反应时间为0.5~60min。

6.根据权利要求1所述的双键位置鉴定方法，其特征在于，步骤4）中所述分析步骤为根据步骤2）所得产物的二级质谱图，分析得到理论的二级碎片离子的分子式，与底物或光照反应产物的分子式对比，并结合特征离子的不饱和度，从而反向推导出双键的位置。