[发明专利]一种扫描方法及扫描装置有效
申请号: | 201911414388.9 | 申请日: | 2019-12-31 |
公开(公告)号: | CN110976872B | 公开(公告)日: | 2021-10-01 |
发明(设计)人: | 董建新 | 申请(专利权)人: | 鑫精合激光科技发展(北京)有限公司 |
主分类号: | B22F3/105 | 分类号: | B22F3/105;B33Y10/00;B33Y30/00;B33Y50/02 |
代理公司: | 北京知迪知识产权代理有限公司 11628 | 代理人: | 王胜利 |
地址: | 102206 北京市昌平区沙河*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 扫描 方法 装置 | ||
1.一种扫描方法,其特征在于,包括以下步骤:
建立待成形零件的三维模型,划分所述三维模型以形成至少一层切片层,并划分每一个所述切片层以形成至少一个扫描区域;
建立至少两种扫描方式,每一种所述扫描方式均包括起光点、扫描轨迹和闭光点,每一种所述扫描方式的起光点和闭光点的位置不同;
根据每一个所述切片层的高度选择至少一种所述扫描方式,以形成零件;
所述扫描方式为以所述起光点开始进行不连续边缘扫描,形成第一扫描轨迹;对所述第一扫描轨迹形成的熔道间隙进行反向不连续边缘回填扫描,形成第二扫描轨迹;
所述扫描方式包括四种;
第一种所述扫描方式的所述起光点P的坐标为(0,0),所述闭光点Q的坐标为(x1,y1);
第二种所述扫描方式的所述起光点P的坐标为(0,y1),所述闭光点Q的坐标为(x1,0);
第三种所述扫描方式的所述起光点P的坐标为(x2,0),所述闭光点Q的坐标为(x2-x1,y1);
第四种所述扫描方式的所述起光点P的坐标为(x2,y1),所述闭光点Q的坐标为(x2-x1,0);
其中,x1为扫描间距,y1为扫描宽度,x2为扫描长度。
2.根据权利要求1所述的扫描方法,其特征在于,所述形成零件的方式为激光扫描,所述激光扫描的搭接方式为负搭接,搭接率为20%至40%。
3.根据权利要求2所述的扫描方法,其特征在于,所述负搭接采用如下方法:所述第一扫描轨迹的扫描步长和所述第二扫描轨迹的扫描步长相等,且均是熔道宽度的1.2倍至1.3倍。
4.根据权利要求1所述的扫描方法,其特征在于,所述扫描区域至少为两个时,所述扫描区域之间的分区间距相等。
5.根据权利要求4所述的扫描方法,其特征在于,所述分区间距与所述扫描间距相等。
6.一种扫描装置,其特征在于,包括:
设计模块,用于建立待成形零件的三维模型,划分所述三维模型以形成至少一层切片层,并划分每一个所述切片层以形成至少一个扫描区域;
规划模块,用于建立至少两种扫描方式,每一所述扫描方式均包括起光点、扫描轨迹和闭光点,每一所述扫描方式的起光点和闭光点的位置不同;
扫描模块,用于根据每一所述切片层的高度选择至少一种所述扫描方式,以形成零件;
所述扫描方式为以所述起光点开始进行不连续边缘扫描,形成第一扫描轨迹;对所述第一扫描轨迹形成的熔道间隙进行反向不连续边缘回填扫描,形成第二扫描轨迹;
所述扫描方式包括四种;
第一种所述扫描方式的所述起光点P的坐标为(0,0),所述闭光点Q的坐标为(x1,y1);
第二种所述扫描方式的所述起光点P的坐标为(0,y1),所述闭光点Q的坐标为(x1,0);
第三种所述扫描方式的所述起光点P的坐标为(x2,0),所述闭光点Q的坐标为(x2-x1,y1);
第四种所述扫描方式的所述起光点P的坐标为(x2,y1),所述闭光点Q的坐标为(x2-x1,0);
其中,x1为扫描间距,y1为扫描宽度,x2为扫描长度。
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