[发明专利]一种扫描方法及扫描装置有效

专利信息
申请号: 201911414388.9 申请日: 2019-12-31
公开(公告)号: CN110976872B 公开(公告)日: 2021-10-01
发明(设计)人: 董建新 申请(专利权)人: 鑫精合激光科技发展(北京)有限公司
主分类号: B22F3/105 分类号: B22F3/105;B33Y10/00;B33Y30/00;B33Y50/02
代理公司: 北京知迪知识产权代理有限公司 11628 代理人: 王胜利
地址: 102206 北京市昌平区沙河*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 扫描 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种扫描方法,其特征在于,包括以下步骤:

建立待成形零件的三维模型,划分所述三维模型以形成至少一层切片层,并划分每一个所述切片层以形成至少一个扫描区域;

建立至少两种扫描方式,每一种所述扫描方式均包括起光点、扫描轨迹和闭光点,每一种所述扫描方式的起光点和闭光点的位置不同;

根据每一个所述切片层的高度选择至少一种所述扫描方式,以形成零件;

所述扫描方式为以所述起光点开始进行不连续边缘扫描,形成第一扫描轨迹;对所述第一扫描轨迹形成的熔道间隙进行反向不连续边缘回填扫描,形成第二扫描轨迹;

所述扫描方式包括四种;

第一种所述扫描方式的所述起光点P的坐标为(0,0),所述闭光点Q的坐标为(x1,y1);

第二种所述扫描方式的所述起光点P的坐标为(0,y1),所述闭光点Q的坐标为(x1,0);

第三种所述扫描方式的所述起光点P的坐标为(x2,0),所述闭光点Q的坐标为(x2-x1,y1);

第四种所述扫描方式的所述起光点P的坐标为(x2,y1),所述闭光点Q的坐标为(x2-x1,0);

其中,x1为扫描间距,y1为扫描宽度,x2为扫描长度。

2.根据权利要求1所述的扫描方法,其特征在于,所述形成零件的方式为激光扫描,所述激光扫描的搭接方式为负搭接,搭接率为20%至40%。

3.根据权利要求2所述的扫描方法,其特征在于,所述负搭接采用如下方法:所述第一扫描轨迹的扫描步长和所述第二扫描轨迹的扫描步长相等,且均是熔道宽度的1.2倍至1.3倍。

4.根据权利要求1所述的扫描方法,其特征在于,所述扫描区域至少为两个时,所述扫描区域之间的分区间距相等。

5.根据权利要求4所述的扫描方法,其特征在于,所述分区间距与所述扫描间距相等。

6.一种扫描装置,其特征在于,包括:

设计模块,用于建立待成形零件的三维模型,划分所述三维模型以形成至少一层切片层,并划分每一个所述切片层以形成至少一个扫描区域;

规划模块,用于建立至少两种扫描方式,每一所述扫描方式均包括起光点、扫描轨迹和闭光点,每一所述扫描方式的起光点和闭光点的位置不同;

扫描模块,用于根据每一所述切片层的高度选择至少一种所述扫描方式,以形成零件;

所述扫描方式为以所述起光点开始进行不连续边缘扫描,形成第一扫描轨迹;对所述第一扫描轨迹形成的熔道间隙进行反向不连续边缘回填扫描,形成第二扫描轨迹;

所述扫描方式包括四种;

第一种所述扫描方式的所述起光点P的坐标为(0,0),所述闭光点Q的坐标为(x1,y1);

第二种所述扫描方式的所述起光点P的坐标为(0,y1),所述闭光点Q的坐标为(x1,0);

第三种所述扫描方式的所述起光点P的坐标为(x2,0),所述闭光点Q的坐标为(x2-x1,y1);

第四种所述扫描方式的所述起光点P的坐标为(x2,y1),所述闭光点Q的坐标为(x2-x1,0);

其中,x1为扫描间距,y1为扫描宽度,x2为扫描长度。

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